《GB_T 43930-2024 宇航用电磁继电器通用规范.docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《GB_T 43930-2024 宇航用电磁继电器通用规范.docx（55页珍藏版）》请在课桌文档上搜索。
1、ICS29.120.70CCSV04OB中华人民共和国国家标准GB/T439302024宇航用电磁继电器通用规范Generalspecificationforelectromagneticrelaysofspaceapplications2024-04-25发布2024-08-01实施国家市场监督管理总局给3fe国家标准化管理委员会发布前言V1范围2规范性引用文件3术语和定义4材料4.1 一般要求4.2 金属材料24.3 非金属材料24.4 电磁线24.5 镀层25结构设计25.1 通则25.2 外壳25.3 密封方法35.4 触点35.5 线圈35.6 电路图35.7 安装方式35.8 引出
2、端46技术要求61.1 总体要求61.2 生产过程检验61.3 运行筛选61.4 可焊性61.5 耐电压61.6 绝缘电阻61.7 电性能61.8 密封81.9 温度冲击81.10 耐溶剂性81.11 冲击81.12 振动81.13 粒子碰撞噪声检测(PlND)81.14 稳态加速度81.15 引出端强度91.16 磁干扰91.17 线圈寿命91.18 耐焊接热91.19 盐雾或盐气91.20 过负载91.21 寿命91.22 中等电流91.23 机械寿命1()1.24 极限通断能力101.25 限时电流继电特性101.26 连续通电101.27 内部潮湿101.28 真空冷焊101.29 真
3、空冷热浸1()1.30 破坏性物理分析(DPA)101.31 耐辐照111.32 标志111.33 玻璃绝缘子111.34 加工质量127 检验方法127.1 目检和机械检查127.2 运行筛选127.3 可焊性137.4 耐电压137.5 绝缘电阻147.6 电性能157.7 密封217.8 温度冲击227.9 耐溶剂性227.10 冲击227.11 振动237.12 粒子碰撞噪声检测(PIND)247.13 稳态加速度267.14 引出端强度267.15 磁干扰277.16 线圈寿命287.17 耐焊接热297.18 盐雾或盐气297.19 过负载297.20 寿命3()7.21 中等电流
4、327.22 机械寿命327.23 极限通断能力(仅适用高电平负载)327.24 限时电流继电特性337.25 连续通电337.26 内部潮湿337.27 真空冷焊347.28 真空冷热浸357.29 破坏性物理分析(DPA)367.30 耐辐照368 检验规则368.1 检验分类368.2 鉴定检验368.3 生产过程检验和质量一致性检验419包装、标识、运输和贮存469.1 包装和标识469.2 运输和贮存471()说明事项4710.1 触点额定值4710.2 订货文件4710.3 应用指南47附录A(规范性)破坏性物理分析试验方法48A.1破坏性物理分析(DPA)48A.2外部目检48A
5、.3粒子碰撞噪声监测(PlND)49A.4密封49A.5内部气体成分分析49A.6内部检查49前言本文件按照GB/T1.1-2020标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则的规定起草。请注意本文件某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SACTC425)提出并归口。本文件起草单位：桂林航天电子有限公司、中国航天时代电子有限公司。本文件主要起草人：周本胜、崔黎、蒋端林、马齐勇、李明、唐钮杰、蔡黎彬、岁福彪、莫文礁、蔡昭文、陈楚开、刘征宇。宇航用电磁继电器通用规范1范围本文件规定了宇航用电磁继电器的材料，结构设计，技术要求
6、，检验方法，检验规则，包装、标识、运输和贮存，以及说明事项。本文件适用于宇航用电磁继电器（以下简称“继电器”）的设计、制造和检验。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/TGB/TGB/TGB/TGB/TGB/TGB/T2423.52019环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击2423.1020192423.1520082423.1720082423.2120082423.2220122423.232013环境试验第2部分
7、：试验方法试验Fc:振动（正弦）电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ga和导则：稳态加速度电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ka:盐雾电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验M:低气压GB/T2423.242022环境试验环境试验环境试验第2部分：试验方法第2部分：试验方法第2部分：试验方法试验N:温度变化试验Q：密封试验S:模拟地面上的太阳辐射及太阳辐射试验和气候老化试验导则GB/TGB/TGB/T2423.2820052423.3020132423.562023GB/T装件强度GB/TGB/T2423.602008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验T:锡焊环境试验第
8、2部分：试验方法试验XA和导则：在清洗剂中浸渍环境试验第2部分：试验方法试验Fh:宽带随机振动和导则电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验U:引出端及整体安2900.63电工术语基础继电器4728.7-2022电气简图用图形符号第7部分：开关、控制和保护器件GB/T5095.2-1997电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第2部分：一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验3术语和定义GB/T2900.63界定的术语和定义适用于本文件。4.1 一般要求应能防霉、自熄，不应助燃，不应散发出有害气体，不应大量散发出会使密封外壳爆炸的气体，不应使继电器的触点被污染，对继电器寿命
9、和可靠性产生有害影响，或形成载流通道。除外部垫圈外，不应使用硅胴或硅用化合物。选用材料时应能提供最长的贮存寿命。对零部件、材料的接收和认可，均不应理解为对成品的保证接收。4.2 金属材料4.2.1 iUJ金属材料应耐腐蚀，也可经过电镀或加工处理达到耐腐蚀要求；不应使用汞或汞化合物。除触点外，不应使用镁或镁合金。4.2.2 不相容金属当不同的金属相互直接接触使用时，应具有防止电解和腐蚀的措施。能导致活性电解腐蚀(特别是黄铜、紫铜或钢与铅或铝合金的接触使用)的不同金属不应接触使用。不同的基体金属进行金属喷涂或电镀，以提供相同或合适的接触表面。在气密封情况下，底座材料与罩壳材料之间的电位差应小于0.
10、25Vo4.3 非金属材料所有用在继电器外部的非金属材料应满足以下要求：a)样品总失重(TM1.)不大于1%;b)收集的挥发冷凝物质(CVCM)不大于0.1祝O不使用真空下存在有害气体释放的非金属材料。4.4 电磁线继电器使用的电磁线应满足本文件规定的机械及电性能要求。电镀层符合以下要求:a)b)C)d)内外部零件表面不应镀纯锡，使用锡-铅镀层时铅的含量至少为3%;继电器的内外部零件不应镀锌;继电器的内外部零件不应镀镉;不应采用银底镀层的电镀工艺。5结构设计5.1通则继电器的结构和设计应符合正常使用中安装和维修要求。继电器的外形、安装尺寸应符合相应产品标准的规定。5.2外壳外壳应具有能承受在装
11、卸、运输、贮存和安装过程中的正常操作，而无机械故障或变形的机械强度。外壳与触点或线圈之间不应有电气连接，但外壳可作为继电器磁路的部分。5.3 密封方法继电器应经过干燥、排气，再充入保护气体，并在保证干燥和保护气体纯度的条件下密封。如果采用附加密封剂，则符合下列规定：a）密封剂扩散不应超出玻璃绝缘子表面上的引出端外露长度的20%;b）允许存在密封剂处理过程中自然形成的痕迹颜色，但痕迹颜色不应使着色绝缘子的颜色难以识别；c）经固化处理后，应形成能在继电器各种环境下不导电、不开裂的永久密封层。5.4 触点触点负载额定值和触点组数应符合相应产品标准规定。除另有规定外，触点应能在本文件规定的各种环境条件
12、下连续承受最大额定电流，并能在规定的电流下闭合和断开。5.5 线圈线圈与线圈架、触点和任何接地部分之间应具有电气绝缘。线圈电阻和线圈额定电压（或电流）应符合相应产品标准规定。除另有规定外，线圈的设计应保证线圈在最大额定电压（或电流）和最高温度下能连续工作。线圈引出端标志应符合本文件和相应产品标准规定。若有正极引出端（X】或Y1）,应采用颜色有明显差别的玻璃绝缘子作为标志。线圈引出端标志见图1。x或&-Xg或X：X2X2a）单线圈引出端标志-Xi|Vi或X1-Az_2YI一八z-Y：或Xj-Q-X8Y|_Q_Y3b）双线圈引出端标志标引符号说明：X1、Yi线圈正极;X2、Y2一线圈负极。图1线圈
13、引出端标志5.6 电路图规定的电路图应是引出端视图。电路图符号应符合GB/T4728.7的规定。对于无方位标记的继电器，使继电器标有电路图的一面保持向上，然后使继电器围绕一条通过电路图的水平轴线向离开观察者的方向旋转，直至底座引出端面对观察者，这时每个引出端即处于电路图所示的位置上。5.7 安装方式安装支架应是继电器外壳整体的一部分，应牢固地装接在继电器上，防止继电器与安装支架之间产生任何移动。插入式继电器在设计时，应满足安装稳定性要求，不应由引出端来支撑继电器的重量。5.8 引出端5.8.1 通则引出端应符合相应产品标准规定。当焊料热浸渍工艺经鉴定机构批准后，承制方可提供引出端进行过焊料热浸
14、渍（再浸渍）处理的继电器，底座表面不应有焊料，焊料浸渍后引出端应符合GB/T2423.282005中可焊性试验的要求，浸锡厚度至少为0.003mm。热浸渍焊料引出端可比规定的最大直径尺寸大0.08mm。焊料拉尖产生毛刺是热焊料浸渍工艺的正常结果，不应作为拒收理由（见图2）。图2焊料浸渣可接收判据（焊料毛剌极限尺寸）5.8.2 焊钩式引出端焊钩式引出端应设计成能容纳两根导线，每根导线应能承受继电器的最大额定触点或线圈电流。5.8.3 焊针式引出端焊针式引出端应符合相应产品标准规定。5.8.4 插入式引出端插入式引出端的排列和尺寸应符合相应产品标准规定。5.8.5 绕线痕迹当采用锡合金、银或金镀层
15、时，为确保足够的附着力可采用铜底镀层。电镀过程中由于需要进行绕线而引起的铜或其他底镀层轻微暴露是允许的（见图3）o单位为亳米绕箕直彼参名值0207）.30从底座测量最大为1.30OQ图3绕线痕迹5.8.6 引出端焊料浸渍（再浸锡）5.8.6.1 焊料浸渍工艺焊料浸渍工艺的批准以下列方案之一为依据（镀金插入式引出端不应进行焊料浸渍）O所有目检判据应符合GB/T2423.282005的规定。a）承制方应采用与原产品的加工方法相同的焊料浸渍工艺。b）当鉴定合格的原始引出端表面涂层不是上述a）规定的焊料热浸渍涂层时，所采用的焊料浸渍工艺的批准以下列试验程序为依据。1）承制方按正常的生产流程进行A组检验
16、后，每种类型和引线涂层选取6只样品经受承制方的焊料浸渍工艺处理。焊料浸渍后，所有的6只样品均应经受A2和A4分组检验。2） 6只样品中的3只再经受可焊性试验（见6.4）,不应有目检缺陷。3）剩下的3只样品经受耐焊接热试验（见6.18）。4）所有的6只样品由于插入试验插座而造成引出端轻微擦痕不应视为不合格。5.8.6.2 引出端焊料浸渍（再浸锦）的选择承制方可选择在下列情况下进行焊料浸渍（再浸锡）：a）在Al分组筛选试验后，A2分组电气试验前；b）当一批继电器A3组可焊性试验不合格时，作为纠正措施，在焊料浸渍（再浸锡）工艺后，应经受绝缘电阻（所有引出端与外壳间）测试，并且进行A4分组试验；c）经
17、受并通过A组检验的继电器，在焊料浸渍（再浸锡）工艺后，应进行绝缘电阻（所有引出端与外壳间）测试，并且进行目检和机械检查。6技术要求6.1 总体要求继电器应符合本文件和相应产品标准规定的所有要求。本文件的要求与相应产品标准不一致时，应以相应产品标准为准。6.2 生产过程检Sft承制方应在封罩前检查继电器的内部是否存在多余物，并保存记录。应在常规内部目检中放大至少20倍进行检查。6.3 运行筛选按7.2规定进行试验，继电器在循环过程中，触点失效监测仪监测水平要求如下：a）循环过程接触电阻应不大于100Q;b）断开触点间的开路电压应不低于所加负载电压的95除另有规定外，任何继电器的最终绝缘电阻不应小
18、于正常条件下的初始值。6.4 可焊性应按7.3规定进行试验，焊接式引出端临界（检查）部分的表面，应有至少95%的表面积被覆盖上一层连续的新焊料层。对于直径大于1.14mm的焊钩式引出端，处于标准缠绕线和引出端之间的焊缝，其总长度的95%应由焊料和被试端的表面相切，且不应有针点、空白等。若在被试引出端与焊缝之间的焊料相切处是一条不规则或间断的线条，则认为失效。6.5 耐电压应按7.4规定进行试验，漏电流不应超过0.1mAo而电平寿命试验后，在正常大气压或低气压下的耐电压试验值应至少为初始值的75%。6.6 绝缘电阻应按7.5规定进行试验，除另有规定外，绝缘电阻应不小于100oOMo高电平寿命试验
19、后，绝缘电阻应不小于1000Mo6.7 能6.7.1电性能测试由6.7.26.7.7规定的项目组成。除另有规定外，电性能应按下列规定的顺序检验。6.7.2线圈电阻或线圈电流6.7.2.1 线图电阻应按7.6.1.1规定进行试验，线圈电阻应符合相应产品标准规定。6.7.2.2 线圈电流应按7.6.1.2规定进行试验，线圈电流应符合相应产品标准规定。6. 7.3酵态接触电阻或触点电压降6.1.1.1 除态接触电阻应按7.6.2.1规定进行试验，除另有规定外，静态接触电阻不应超过0.05Qo6.1.1.2 触点电压降应按7.6.2.2规定进行试验，触点电压降不应大于0.100Vo对插入式继电器，当用
20、外接插座测量触点电压降时，若读数超过允许值，应直接在继电器插针上测量；若读数在允许的极限值内，则认为该继电器合格。1.1.4 规定的动作、保持和释放电压应按7.6.3规定进行试验，规定的动作、保持和释放电压应符合相应产品标准规定。对于自保持继电器，动作电压为包含自保持/复归电压，保持和释放电压不适用于自保持继电器。1.1.5 动作和释放时间1.1.5.1 蒯J应按7.6.4.1规定进行试验，动作和释放时间应符合相应产品标准规定。动作和释放时间不包括触点回跳时间。对于自保持继电器，动作时间包含自保持时间/复归时间，释放时间不适用于自保持继电器。1.1.5.2 先断后合应按7.6.4.2规定进行试
21、验，对于具有多组触点的继电器，除另有规定外，在所有闭合触点断开前不应出现任何断开触点闭合的现象。1.1.6 触点动态特性1.1.6.1 触点回跳时间应按7.6.5.1规定进行试验，除另有规定外，触点回跳时间不应超过1.oms。1.1.6.2 触点稳定时间应按7.6.5.2规定进行试验，除另有规定外，触点稳定时间不应超过2.0ms。1.1.7 线图瞬态抑制和二极管阻断完好性1.1.7.1 线圈瞬态抑制带有线圈二极管直流工作的继电器，应按7.6.6.1规定进行试验，线圈产生的反电动势不应大于相应产品标准规定值。1.1.7.2 二极管阻断完好性带有线圈二极管直流工作的继电器，应按7.6.6.2规定进
22、行试验，漏电流不应超过相应产品标准规定值。1.1.8 中位筛选双线圈自保持继电器，应按7.6.7规定进行试验，继电器应处于相应产品标准规定的自保持或复归状态，否则判定为中位状态。6.8 蚓应按7.7规定进行试验，除另有规定外，漏率不应大于(IXlO-3)Ws.6.9 温度冲击应按7.8规定进行试验，在每个极限温度下，绝缘电阻，规定的动作、保持和释放电压，以及动作和释放时间应符合6.6、6.7.4、6.7.5的规定。试验后，不应有裂纹、掉片或镀层剥落现象，试验在标准大气条件下的耐电压应符合6.5的要求。6.10 耐溶剂性应按7.9规定进行试验，所有标志应保持清晰。注：不适于激光或蚀标志。6.11
23、 冲击应按7.10规定进行试验，除另有规定外，闭合触点的断开不应超过10Us,断开触点的闭合或桥接不应超过1us,也不应有机械或电气损坏现象。6.12 振动应按7.11规定进行试验，除另有规定外，闭合触点的断开不应超过10us,断开触点的闭合或桥接不应超过Ius,也不应有机械或电气损坏现象。6.13 粒子碰撞噪声检涌(PIND)应按7.12规定进行试验，不应存在自由活动的粒子污染物或过大的机械噪声。6.14 稳态加速度应按7.13规定进行试验，除另有规定外，当线圈未施加电压时，继电器触点应保持在去激励状态；当线圈施加额定电压时，继电器触点应保持在激励状态。自保持继电器无线圈电压时，应保持在各自
24、的保持状态。不应有机械或电气损坏现象。6.15 引出端强度应按7.14规定进行试验，继电器引出端不应松动或断裂，不应有任何对继电器性能产生有害影响的其他损坏。引出端弯曲不应视为损坏。6.16 磁干扰应按7.15规定进行试验，规定的动作、保持和释放电压应符合6.7.4规定的要求。6.17 线图寿命6.17.1 TftS求当相应产品标准中规定时，应按7.16.1规定进行试验，不应出现损坏现象。6.17.2 线圈耐久性应按7.16.2规定进行试验，线圈电阻或线圈电流应符合相应产品标准规定。6.18 耐焊接热应按7.17规定进行试验，不应有对继电器正常工作产生有害影响的损坏。6.19 盐雾或盐气应按7
25、.18规定进行试验，应无由于腐蚀引起的对继电器的工作或功能产生有害影响的破裂、裂纹、掉片、表面剥落以及基体金属的裸露现象。6.20 过负载只适用于高电平负载。应按7.19规定进行试验，继电器闭合触点间的电压降不应大于所加负载电压的5%,断开触点间的电压不应低于所加负载电压的95%。外壳对地的熔断器应保持电气连续性。未按鉴定机构批准的失效确认程序而显示失效的继电器重新进行试验。失效判据见6.21o6.21 寿命应按7.20规定进行试验，触点失效监测仪的监测水平，对于低电平试验触点接触电阻不应大于100;对于高电平试验触点电压降不应大于所加负载电压的5%,断开触点间的电压不应小于所加负载电压的95
26、%。除另有规定外，循环之后的静态接触电阻不应大于初始接触电阻数值的两倍。对具有两组或多组触点，规定用于多相（115V/200V,三相交流）的继电器，其相邻的触点应具有切换多相的能力。相与相之间飞弧应构成失效。不应有机械或电气失效。触点熔接，闭合、承载或断开负载失效，均构成一次失效。引出端温升不应超过75K（仅鉴定检验过程中监测引出端温升）。如果灯负载不大于0.5倍额定电动机负载，则灯负载试验无需进行。未按鉴定机构批准的失效确认程序而显示失效的继电器重新进行试验。在寿命试验后的测试中，二极管的失效也应构成失效。6.22 中等电流应按7.21规定进行试验，除另有规定外，在循环过程中，触点接触电阻不
27、应大于3Q,断开触点间的电压不应低于所加负载电压的95%。循环后在室温下测量的静态接触电阻不应超过相应产品标准规定的极限值。不应出现机械或电气失效。触点熔接，闭合、承载或断开负载失效，或连接外壳与负载系统接地端或中性点的熔断器，均构成一次失效。未按鉴定机构批准的失效确认程序而显示失效的继电器重新进行试验。在中等电流试验后的测试中，二极管的失效也应构成失效。6.23 机械寿命应按7.22规定进行试验，循环后，绝缘电阻和耐电压应符合相应产品标准规定的极限值，动作和释放时间不应超过规定极限值的120%。不应有机械或电气失效。连接外壳与负载系统接地端或中性点的熔断器失效均构成失效。二极管的失效也应构成
28、失效。6.24 极限通断能力应按7.23规定进行试验，试验中不应有电气失效，如触点熔接以及不能闭合或断开规定的极限电流。外壳与负载系统接地端或中性点间的熔断器应保持电气连续性。未按鉴定机构批准的失效确认程序而显示失效的继电器重新进行试验。失效判据见6.21。6.25 限时电流继电特性除另有规定外，应按7.24规定进行试验，试验中不应有触点熔接或粘接，试验后触点电压降应符合6.7.3.2要求。外壳与负载系统接地端或中性点间的熔断器应保持电气连续性。未按鉴定机构批准的失效确认程序而显示失效的继电器重新进行试验。6.26 连续通电应按7.25规定进行试验，不应有引出端松动或其他使产品性能超出规定限制
29、值的损坏。引出端温升不应超过75Ko6.27 内部潮湿应按7.26规定进行试验，除另有规定外，按试验条件A试验时，测试继电器的绝缘电阻不应小于1000MQ,按试验条件B试验时，测试的接触电阻不应超过100mC。6.28 真空冷焊当使用方有要求时，应按7.27规定进行试验，加载寿命试验过程中出现动作时间延迟或不动作均构成失效。试验后，继电器的动作和释放电压、动作和释放时间应不超过相应产品标准规定的极限值。6.29 真空冷热浸当使用方有要求时，应按7.28规定进行试验，加载寿命试验过程中出现动作时间延迟或不动作均构成失效。试验后，继电器的动作和释放电压、动作和释放时间、静态接触电阻、线圈电阻、绝缘
30、电阻应不超过规定相应产品标准的极限值。6.30 破坏性物理分析（DPA）应按7.29规定进行试验，其中内部气体成分分析的样品和内部目检的样品应独立抽取。除另有规定外，额定负载210A的继电器在100C时的内部水汽含量应不大于0.5%（体积分数）；额定负载10A的继电器在IO（TC时的内部水汽含量要求应不大于0.5%（体积分数）且不小于0.2%（体积分数）。6.31 耐辐照当使用方有要求时，应在常温下按7.30规定进行试验，继电器应能承受1.3X10Gy辐照总剂量（钻60作为辐照源）的辐照，辐照率0.5Gy（Si）/s。试验后，耐电压、绝缘电阻、电性能应不超过高电平寿命试验后的极限值。6.32
31、标志6.32.1 TftS求继电器应按本文件规定进行标志，应标有下列内容：a）型号规格；b）批次或日期代号；c）电路图；d）承制方名称或商标。6.32.2 互换性在相应产品标准规定的安装方式和性能的范围内，相同型号规格的继电器应具有互换性。6.33 玻璃绝缘子玻璃绝缘子应放大10倍进行显微镜下的检查，底座检查能接受的轻微的缺陷，如气泡、掉片和裂纹如图4所示，接收条件如下：a）有尖锐边缘的破裂或裂开的水泡应拒收；b）表面气泡，其直径超过引出端与相应的底座金属间径向距离的1/3（对于气泡群，应采用气泡群轮廓直径）应拒收（见图4）;c）玻璃内部或表面有异物应拒收；d）深色污点（色素聚集），其直径超过
32、引出端与相应底座金属间径向距离的1/3应拒收；e）弧度超过90的环形裂纹应拒收（见图4）;f）径向裂纹，其长度超过引出端与相应底座金属间径向距离的1/3应拒收（见图4）;g）切向裂纹若不局限于单一环区内应拒收（见图4）;h）表面掉片，其长度或宽度超过引出端与相应的底座金属间径向距离的1/3应拒收（见图4）;i）新月形（凸面）掉片，其长度或宽度超过引出端与相应的底座金属间径向距离的1/3应拒收；j）在引出端方向，新月形凸面高出0.5mm或引出端直径的1/3,取最大值，应拒收；k）玻璃边缘外围环绕底座金属的裂纹应拒收；1）引出端与玻璃分离应拒收。折收b）的判据图e）的判据图D的判据图由的判据图h）
33、的判据图注：虚线表示沿引出端和底座金属间的径向距离将玻璃三等份（区域）O图4底座检验辅助图在有争议的情况下，继电器应满足相应的绝缘电阻、耐电压和密封性要求，而不考虑玻璃绝缘子是否可接收。6.33要求不适用于经受B组和C组检验后的继电器.6.34加工继电器应采用能保证质量一致性的方法进行加工，零部件应无碎裂或错位，无锋利的棱边或毛刺，也无其他会影响寿命、使用性及外观的缺陷。7检验方法7.1 目检和机械检查继电器应经检查以证明其材料、结构设计、标志、玻璃绝缘子、加工质量分别符合第4章、第5章、6.32、6.33、6.34的要求。玻璃绝缘子的检验仅在明确有要求时适用。7.2 运行筛选7.2.1 iS
34、JQJ继电器按照下列顺序进行运行试验。a）高温运行：继电器应经受1250C的试验，在样品放入试验箱后，试验箱温度应稳定在125。对于鉴定检验，在125下，非自保持继电器线圈加额定电压激励Ih,终止时测量动作电压；对于自保持继电器，一个线圈加额定电压激励30min,终止时测量动作电压，以确定是否符合相应产品标准；而后另一个线圈加额定电压激励30min,终止时测量动作电压，以确定是否符合相应产品标准。对于A组检验，重量不大于28g的继电器，线圈加额定电压激励至少15min;重量大于28g的继电器，线圈加额定电压激励至少30min,终止时测量规定的动作电压，以确定是否符合相应产品标准；对自保持继电器
35、，一个线圈加额定电压激励7.5min（或15min）,终止时测量动作电压，而后另一个线圈加额定电压激励7.5min（或15min）,终止时测量动作电压。在此温度下，继电器应经受2500次循环运行试验。最大循环速率按7.2.2规定。继电器应加如下触点负载：开路负载电压IOmV50mV（直流或交流峰值），负载电流10A50A。在每次“闭合”和“断开”期间内，至少有40%的时间来监测每对触点间的接触电阻或开路电压。当发生失效时，试验设备应能自动停机或能记录每次失效。b）低温运行：高温运行之后，继电器应经受一65的试验，在样品放入试验箱后，试验箱温度应稳定在一65。对于鉴定检验，在一65C下继电器线圈
36、去激励1h。对于A组检验，重量不大于28g的继电器，线圈去激励至少15min;重量大于28g的继电器，线圈去激励至少30min。终止时，应测量规定的释放电压，以确定是否符合相应产品标准。在此温度下，继电器按a）规定的方法，经受2500次循环运行试验。注：对于自保持继电器，释放电压的测试不适用。7. 2.2最大循环速率对非自保持继电器，最大循环速率按公式进行计算。式中：V最大循环速率，单位为次每秒（次s）;t:最大动作时间，单位为秒（三）;t2最大释放时间，单位为秒（三）;1个循环次数，单位为次。对自保持继电器，最大循环速率按公式进行计算。式中：V最大循环速率，单位为次每秒（次s）;t最大动作时
37、间，单位为秒（三）;1个循环次数，单位为次。7.3 可焊性继电器应按GBZT2423.282005中试验Ta的规定进行试验，并应采用下列细则。a）被试引出端的数目：每只继电器的所有引出端（不适用于安装螺栓或螺纹引出端）。b）被试引出端的老化条件：除另有规定外，老化方法Ia:1h蒸汽老化试验。C）试验方法：除另有规定外，焊槽法。7.4 耐电压7.4.1 通则继电器应按7.4.2和7.4.3规定进行试验。7.4.3中规定的试验方法不适用于A组、B组、Cl分组、C5分组、C6分组和C7分组检验。7.42正常大气压继电器应按GB/T5095.21997中试验4a方法A的规定进行试验。除另有规定外，应采
38、用下列细则。a）试验电压的施加点和试验电压的大小：按表1规定。b）最大漏电流：0.1mAO加电压持续时间：鉴定检验、B组和C组检验至少为60s;A组检验至少为5s。d）可采用计数（合格或不合格）数据。表1耐电压试验细则试验电压的施加点试验电压a）外壳、底座或外壳整体与处于激励与去激励状态（对自保持继电器为自保持与匏归状态）下的所有触点之间；b）外壳、底座或外壳整体与各线圈之间；c）所有触点与线圈之间；d）处于激励与去激励状态（对自保持继电器为自保持与复归状态）下的各断开触点之间；e）自保持继电器的各线圈之间；D处于激励与去激励状态（对自保持继电器为自保持与复归状态）下的各触点组之间（适用于多触
39、点组继电器）。交流（100O50）V+两倍额定电压，或规定电压X（15%）V7.4.3 低气压继电器应按GB/T2423.212008的规定进行试验，并应采用下列细则：a）安装方法：正常安装方式；b）试验气压：除另有规定外，试验气压为4kPa;c）在低气压下的测试：除另有规定外，试验电压为350V;d）试验电压的施加点：所有引出端与外壳间；C）加压持续时间：鉴定检验和C组检验至少为60s;D采用计数（合格或不合格）数据。7.5 Mfi继电器分别处于激励和去激励（自保持/复归）状态，按GB/T5095.21997中试验3a规定进行测试。除另有规定外，应采用下列细则：a）试验方法：方法A;b）测试
40、电压：100Vd.c.15Vd.c.（适用于线圈和触点额定值均低于60V的继电器）或500Vd.c.50Vdc（适用于其他继电器）；c）测试点：按表1规定的各施加点；d）采用计数（合格或不合格）数据。7.6 电性能7.6.1 线图电阻成线圈电流7.6.1.1 线圈电阻应使用电阻电桥或其他适合的测试仪器及测试方法。测试温度为25C或修正到25。施加额定电压时间最多为5So7.6.1.2 绷B3E线圈两端施加额定电压时，电流应在规定的范围内。施加电压时间最多为5s。7.6.2 静态接触电阻或触点电压降7.6.21 E继电器应按GB/T5095.21997中试验2b规定进行测试，采用下列细则。a）连
41、接方式：测量点应在引线露出继电器处，应采用合适的连接夹具或其他工具。b）测试负载：测试电压小于或等于额定电压，测试电流100mA;低电平的测量电流最大为IOniA,测试电压最大为6V（直流最大值或交流峰值）。c）试验后的测试电流：除分组中规定有寿命试验外，电压应小于或等于额定电压，电流最大为100mA;分组中规定有寿命试验时，负载电压与电流应与寿命试验的最大额定电压与电流相同：或采用最大直流电压28V、最大电流100mA。d）测试点：对于非自保持继电器，在所有动断触点组之间；线圈用额定电压激励，在所有动合触点组之间；对于自保持继电器，线圈应去激励，闭合的触点组之间，自保持/复归状态。e）测试前
42、的动作次数：无。D测试动作次数：鉴定检验1组试验时，每组触点的闭合位置最多3次。鉴定检验表的其他组、A组、B组和C组检验每组触点的闭合位置1次。g）每动作1次的测量次数：每组触点的闭合位置1次。动作后，在电路稳定后最长在IOS之内读取数值。7.d22触点电压降继电器按GB/T5095.2-1997中试验2b的规定进行测量。并采用下列细则。a）连接方法：测量点应在引线露出继电器处。应采用合适的连接夹具或其他工具。b）测试负载：不大于额定电压，额定阻性电流。如果采用较小的测试电流，亳伏电压降应按欧姆定律进行调整。c）中等电流和寿命试验后的测试负载：当分组中规定有中等电流时，应使用不大于额定电压下与
43、中等电流相同的电流或100mA。当分组中规定有寿命试验时，应采用不大于额定电压与高电平寿命试验相同的电流或100mAo如果采用较小的测试电流，亳伏电压降可按欧姆定律进行调整。d）测试点：对于非自保持继电器，在所有动断触点组之间；线圈用额定电压激励，在所有动合触点组之间；对于自保持继电器，线圈应去激励，闭合的触点组之间，自保持/复归状态。e）测试前的动作次数：无。D测试动作次数：鉴定检验表的1组每组触点的闭合位置最多3次。鉴定检验表的其他组、A组、B组和C组检验每组触点的闭合位置一次。g）每动作1次的测试次数：每个触点闭合位置动作1次。动作后，在电路稳定后最长在IOS之内读取数值。7.43自ft
44、m11Si*7.6.11逊I规定的动作电压、自保持/复归电压、保持电压、释放电压应按7.6.3.2、7.6.3.3、7.6.3.4或7.6.3.5规定进行测试。对于鉴定和周期检验，除另有规定外，继电器应安装在3个相互垂直平面的每一个平面上。对于质量一致性检验，安装方向可任意。采用合适的指示仪监测触点的状态。试验过程中，当线圈以不低于规定的动作电压激励时，或当线圈电压（或电流）降低至不低于规定的保持值（电压）的任一值时，或当线圈电压从规定的释放值（电压）降至0时，所有触点都不应改变状态（断开或重新闭合）。可采用7.6.3.27.6.3.5中规定的阶跃函数变化电压进行规定的动作、保持和释放电压值的
45、测试。由于电压的缓慢上升会使继电器线圈过热，并会改变规定的动作、保持和释放值（电压），因此当有争议时，应以阶跃函数法为准。对于自保持继电器，动作电压等同于自保持/复归电压。7.6.3.2fiMTBE非自保持继电器电压从0开始增加至继电器动作，并测量规定的动作电压值。采用下列规定和按图5所示的阶跃函数变化电压进行测量：a）阶跃升至最大规定的动作电压，触点应转换，所有动合触点应闭合；b）阶跃升至线圈额定电压；c）阶跃降至规定的保持电压，动合触点应保持闭合；d）阶跃降至规定释放电压，所有触点应转换，所有动断触点应闭合；e）阶跃降至0电压。线圈额定电长动作电乐保特电压释放由用a）非自保持继电器图5规定的动作、保持和椁放电压测试程序号战圈0FIFI7b）双线HB自保持继电器0IC）单线圈自保持继电器标引符号说明：T测试时间。图5规定的动作、保持和释放电压测试程序（续）7.6.3.3规定的自保持/复归电压只适用于自保持继电器，在测试规定的自保持/复归（电压）之前，应使自保持继电器的所有触点保持在相应产品标准规定的后激励状态。逐渐增加自保持线圈，直至各触点转换并测试规定的动作（自保持）电压。加额定自保持电压然后降至0。逐渐增加复归线圈的电压，直至各触点转换并测试规定的动作（复归）电压。采用下列规定和图5所示的阶跃函数
