通往创新研究的快捷途径.docx

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1、通往创新研究的快捷途径ParkNXIO为您带来最高纳米级分辨率的数据，值得您信赖、使用和拥有。无论是从样品设定还是到全扫描成像、测量与分析，ParkNXIO都可以在保证您专注于创新研究工作的同时提供高精度的数据。创新研究的特征ParkSmartSCan智能模式在SmartSCanAUtO独有的智能模式下，系统自动执行所有必要的成像操作,同时智能选择最佳的图像质量和扫描速度。这是通过Park的专利技术才得以实现的。它不仅可以为您节省时间和金钱，还可以给你您带来最好的研究结果Park消除串扰技术ParkNXlo为您带来最高纳米级分辨率的数据，值得您信赖、使用和搦有。它是全球唯一一个真正非接触式原子

2、力显微镜，在延长探针使用寿命的同时，还能良好地保护您的样品不受损坏。可弯曲的独立XY扫描仪和Z扫描仪可带来无与伦比的精确度和分辨率。Park原子力显微镜模式Park原子力显微镜具有综合性的扫描模式，因此您可以准确有效地收集各种数据类型。从使用世界上唯一的真非接触模式用来保持探针的尖锐度和样品的完整性，到先进的磁力显微镜，Park在原子力显微镜领域为您提供最具创新、精确的模式。ParkNXlo扫描离子电导显微镜模块ParkNXlo扫描离子电导显微镜模块为广泛的应用，细胞生物学，分析化学，电生理学和神经科学提供纳米级成像CParkNXlO-概况1Park原子力显微镜ParkNXlO最精确且使用最方

3、便的原子力显微镜ParkSySternS使纳米研究进展成为可能ParkNXlO纳米科学研究的至上选择更好的精度，更准的数据ParkNXIO为您带来最高纳米级分辨率的数据，值得您信赖。它是全球唯一一个真正非接触式原子力显微镜，在延长探针使用寿命的同时，还能良好地保护您的样品不受针尖损坏。独立的XY扫描器平板扫描器和Z扫描器可带来无与伦比的精确度和分辨率。更好的精度，更高的效率随着我们创新性操作软件ParkSmartSCan的投入使用，ParkNXIO具备了比以往更快更简单的设置和最优化的数据采集。在ParkSmartSCan的智能模式下您只需点击三下鼠标即可快速得到高质量的纳米级分辨率图像，而手

4、动模式更是为经验丰富的研究者的需要提供自定义的工作流程所需的全部功能。更好的进度，更佳的研究在获得更好数据的同时又节省了宝贵的时间，您可以更加专注于创新领域研究工作。即便是最为特殊的应用，ParkNXIo凭借著众多的测量模式和可定制化设计满足您的所有需求。ParkNXlO满足所有科研方向的创新功能通过消除扫描器串扰进行准确的XY扫描 用于样品和探针的独立闭环XY和Z柔性扫描器 正交XY扫描 整个扫描范围内的线性度误差小于Inm Z扫描器在整个扫描范围内的线性偏差小于0.015% 精确的高度测量保留真实的样品表面形貌信息，无需软件处理低噪声Z探测器可精确测量AFM表面形貌 业界领先的低噪声Z检测

5、器测量样品表面形貌 没有过沿过冲和压电蠕变误差的真正样品表面形貌 即便是高速扫描也可以保持精确的表面高度纪录 前向正弦扫描运算法则减少了XY扫描器振铃现象 行业领先的前向和后向扫描间隙横向飘移小于。15%TrueNon-Contact模式可保证最佳探针寿命，高分辨率和样品保护 业界领先的Z-Seanner带宽超过9kHz 最快的Z轴伺服速度超过62亳米/秒的近针速度 针尖磨损最小化，同时保证高质量和高分辨率成像 最大程度保护样品表面 免受攻丝成像中常见的参数依赖性结果的影响人性化设计的软件和硬件功能方便样品或换针的开放式使用（开放式空间方便样品和针尖更换） 预对准的探针夹设计，可轻易直观的进行

6、SLD光校准 燕尾锁设计结构可轻松装卸扫描头 直接用于高分辨率同轴光学系统 灵敏的力反馈可以在十秒内快速的自动近针到样品表面 ParkSmartSCanM原子力显微镜操作软件足以让初学者和资深用户都能进行专业的纳米级研究。-智能模式：三个简单设定即可完成自动成像来确定探针设置，扫描区域和扫描范围。-手动模式：向高级用户提供宏观/脚本支持以进行微调控制。最全面的AFM解决方案 具有所有SPM扫描模式 最多样品测量选项（多种功能模块选择） 拥有业界最佳选择兼容性和可升级性 24位数码控制器带有内部锁相放大器，Q控制器和弹性系数校准单元 隔音罩的主动温控ParkNXlOAFM技术无扫描器弓形弯曲的平

7、直正交XY轴扫描Park的串扰消除技术不仅改善了扫描器弓形弯曲的缺点还能够在各种不同扫描位置，扫描速率和扫描尺寸条件下进行平直正交的XY轴扫描。即使是最平坦的样品也不会出现如光学平面，各种偏移扫描等曲率的背景。由此可以为您在研究中遇到的所有极具挑战性的问题提供高精确度的纳米测量。无耦合关系的XY和Z扫描器Park和竞争对手最根本的区别在于扫描器的构造，Park独特又独立的XY轴与Z轴扫描器设计使其达到了无可比拟的高精度的纳米分辨率数据。精确的表面测量样品表面平直扫描！ 低残差弓形弯曲 无需软件处理(原始数据) 不受扫描位置影响也会有精确的扫描结果行业领先的低噪声Z轴探测器我们的显微镜配有最有效

8、的0.02nm噪声带宽的低噪声Z探测器，从而达到非常精准样品形貌成像，没有边沿过冲无需校准。ParkNXIO保证为您提供好的数据同时也为您节省宝贵的时间。无蠕变效应通过低噪声Z轴探测器进行精准的样品形貌测量 用低噪声Z探检测器对形貌发出信号 有高带宽，Z探检器低噪声为0O2nm 边缘位置扫描没有前沿或后沿过冲现象 终身无需校准样品：标称台阶高度1.2m(9mX1mz2048pixelsX128lines)TrueNOn-ContaCtTM模式TrueNe)n-ContactTM模式是ParkAFMSyStemS独特的扫描模式，可以通过阻止扫描过程中针尖和样品破坏性的相互作用从而带来高分辨率和精

9、确的数据。和扫描时探针不断接触样品的接触模式或者探针间断接触样品的轻敲模式不同，在非接触模式中使用的探针并不会接触到样品，因此非接触模式有几大关键优势：由于针尖的锋利度保持不变即可进行高分辨率成像扫描；非接触模式通过避开探针和样品的直接接触从而避免损坏过软样品；同时减少更换探针次数也可节省成本。此外，非接触模式可以感知探针与样品原子之间的作用力。探针接触样品时产生的横向力可以被检测。所以，非接触模式中使用的探针可以避免撞到样品表面突然出现的高层结构。接触和轻敲模式只能进行探针底端力检测，很容易受到这种撞击伤害。更快速的Z轴伺服使得TrUeNon-ContactAFM有更精确的反馈TrueNOn

10、-Contact模式 针尖磨损更低=高分率扫描更长久 无损式探针一样品接触=样品受损最小化 可满足各种条件下对各种样品进行非接触式扫描ParkNXlO凝结着最具创新的AFM技术1 .扫描范围为50m50m的2D扫描器XY轴扫描器有对称的二维高强度压电叠堆。它可为进行精确的纳米级样品扫描，提供基本的面外高效正交运动和高响应能力。ParkNXlO的这种紧密刚硬的构造具备低噪声高速的伺服响应能力。2 .高速Z轴扫描器，扫描范围达15m借助高强度压电叠堆和挠性设计，标准Z轴扫描器的共振频率高达9kHz（一般为10.5kHz）且探针的Z轴速率不低于48mm秒。Z轴最大扫描范围可从标准的15m扩展至30m

11、（可另选Z扫描头）。3 .低噪声XYZ位置传感器行业领先的低噪声Z轴探测器代替Z电压作为形貌信号。低噪声XY闭环扫描可将正向扫描和反向扫描间隙降至扫描范围的0.15%以下。4 .驱动XY轴样品台XY轴样品台是驱动化的，以便于将样品导航并定位到扫描区域。这种驱动台在这两个轴上的分辨率同为0.6Um（使用微步）5 .自动步进扫描借助驱动样品台，步进扫描可编程多区域成像，以下是它的工作流程：1 .扫描成像2 .抬起悬臂3 .移动驱动平台到设定位置4 .进针5 .重复扫描该自动化功能可大大减少扫描过程中手动需求，从而很大程度上提高生产力。6 .操作方便的样品台ParkNXlO的独特头部设计可使用户从侧

12、面操作样品和探针，用户在样品台上可放置的最大样品体积为50mmX50mm20mm（长X宽X高）。7 .高级扫描探针显微镜模式和选项的扩展槽只需将可选模块插入扩展槽便可激活高级扫描探针显微镜模式。得益于NX系列原子力显微镜的模块设计，其生产线设备兼容性得到大大提高。8 .结合了集成LED照明的同轴高倍显微镜超长工作距离的定制物镜（工作距离50mm,数值孔径0.21,分辨率1.0Um）带来前所未有的镜头清晰度。直视同轴设计使得用户可轻易在样品表面寻找目标区域。EL20x的长行程物镜的大尺寸CCD可为您在高视角前提下提供0.7ym的高分辨率。9 .滑动嵌入SLD镜头的自主固定方式您只需滑动嵌入燕尾导

13、轨便可轻松更换原子力显微镜镜头。该设计可将镜头自动锁定至预对准的位置，同时与复位精度为几微米的电路系统相连接。借助于相关性低的SLD,显微镜可精确成像并可准确测定力-距离曲线。10 .垂直调节驱动的Z平台和聚焦平台驱动Z平台和驱动聚焦平台可使悬臂检测样品表面并为用户持续提供清晰的图像。用户通过软件界面进行操控，由高精度步进电机带动，即使是透明样品或液池应用中都可简单操作。高速24位数字控制器所有NX系列的原子力显微镜都是由相同的NX电子控制器进行控制和处理。该控制器是个全数字，24位高速控制器，可确保TrUeNOn-COntaCtlM模式下的成像精度和速度。凭借着低噪声设计和高速处理单元，该控

14、制器也是纳米成像和精确电压电流测量的绝佳选择。嵌入式数字信号处理为原子力显微镜带来更为丰富的功能，更好的解决方案，是高级研究员的最佳选择。XY和Z轴检测器的24位信号分辨率 XY轴（50urn）的分辨率为0.003nm Z轴（15m）的分辨率为0.001m嵌入式数字信号处理功能 三通道数码锁相放大器 弹簧系数校准（热方法） 数据Q控制集成式信号端口 专用可编程信号输入/输出端口 7个输入端口和3个输出端口ParkSmartScanParkAFMs划时代的操作软件集多功能性，易用性和高端品质性能为一体，为您提供最佳的原子力显微镜体验环境。智能模式可以帮缺乏经验的用户在最短时间内快速获取高质量的纳

15、米图像。ParkSmartSCan也有完整的手动模式，使AFM高级用户能够完成自定义的样本扫描，访问各种参数，设置和高级功能。ParkNXlO世界上最精准和最容易操作的AFM简单的探针和样品更换独有的设计能让您轻易地用手从侧面更换新的探针和样品。借助安装悬臂式探针夹头中预先对齐的悬臂，无需再进行繁杂的激光校准工作。可用手轻易更换闪电般快速的自动进针自动的探针样品进针功能能让用户无需进行干预操作。通过监测悬臂接近表面的反应，ParkNXlo能够在悬臂装载后十秒内开始并自动快速完成探针样品进针操作。高速Z轴扫描器的快速信息反馈和NX电子控制器的低噪声信号处理使得无需用户干预就能快速接触样品表面。快

16、速精准的SLD光校准凭借我们先进的预校准悬臂架，悬臂在装载时SLD光便已聚焦完毕。此外，作为行内唯一一家可以提供自上而下的同轴视角可以让您轻松找到光点。由于SLD光垂直照在悬臂上，您可通过旋转两个定位按钮直观地在X轴Y轴移动光点。这样您可以在激光准直页面中轻易找到SLD光并将其定位在PSPD上。此时您只需要稍微调整到最大化信号，便可开始获取数据。更换悬臂时SLD光总是聚焦在探针尖端。ParkSmartScanPixel/Scansize像素/扫描尺寸Qualityspeed质量速度Choosepixeldensityandscansize.选择像素密度和扫描尺寸。startwithnewsam

17、pleA新样品A开始setup设置PoSitiOn-定位image一成像end-结束新样品B开始SmartSCannl智能模式下的单击成像您只需耍确定的是原子力显微镜成像的像素密度和扫描尺寸。除了这些因素，您可将所有复杂的原子力显微镜参数都交由ParkSmartSCaM（智能模式处理。系统将在最佳条件下开始测量，点击按钮后自动成像。适用于所有研究人员的原子力显微镜操作系统不论您的原子力显微镜是用于学术研究、工业计量或是故障分析，SmartScan自动模式都将为您提供最高效的体系，生成可发表的高质量原子力显微镜数据。此外，SmartSCanTM通过原子力显微镜实现高效对话，即便是新手也能在短时间

18、内像行家一样获取高质量数据。FastApproachw点击按钮后，Z轴扫描仪自动接近样品，速度快于传统的手动进针。Park独特的FaStAPPrOaCh吗在不需要用户任何参与或干涉的情况下，在装载悬臂10秒后实现了全速进针到样品表面。易于寻找目标区域完成探针对样品进针后，光学相机会自动聚焦于样品，寻找目标区域（AoI）。ParkSmartScan的用户体验能够轻易地通过控制光学综合窗口的电动平移台实现样品的直觉导航。AdaptiveScanni,加速成像Park的创造性产品一一AdaPtiVeSCanZ基于样本表面的峰值与谷值，自动控制扫描速度。AdaptiveScan通过不断调整最佳扫描速度

19、，以实现在最快速度时获取未知形态的高质量图像。这与那些由经验丰富的行家手动操作相比，不仅有效缩短了成像时间，同时也保证了高质量地成像。无论是移动到周边位置或是瞄准新目标，AdaPtiVeSCaM都可自动选择采用最佳条件。ParkNXlO灵活性，伸缩性高，可满足各种需求NX系列有适合大众化的各种扫描模式，能满足您的所有研究需求。StandardImaging标准成像TrueNon-ContactAFMBasicContactAFM1.ateralForceMicroscopy(LFM)PhaseImagingIntermittent(tapping)AFM真正的非接触模式AFM接触模式AFM侧向

20、力显微镜（LFM）相位成像间歇式（轻敲式）AFMElectricalProperties电性能ConductiveAFM导电AFMI-VSpectroscopyI-V谱线ScanningKelvinProbeMicroscopy(SKPM/KPM)扫描开尔文探针显微镜(SKPM/KPM)SKPMwithHighVoltage高电压SKPMScanningCapacitanceMicroscopy(SCM)扫描电容显微镜(SCM)ScanningSpreading-ResistanceMicroscopy(SSRM)扫描电阻显微镜(SSRM)ScanningTunnelingMicroscopy

21、(STM)扫描隧道显微镜(STM) ScanningTunnelingSpectroscopy(STS)扫描隧道光谱(STS) Time-ResolvedPhotoCurrentMapping(Tr-PCM)时间分辨的光电流测绘(Tr-PCM)MagneticProperties磁性能MagneticForceMicroscopy(MFM)-TunableMFM磁力显微镜（MFM）可调外加磁场MFMChemicalProperties化学性能ChemicalForceMicroscopywithFunctionalizedTip功能化探针的化学力显微镜ElectrochemicalMicros

22、copy(EC-STMandEC-AFM)电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)ThermalProperties热性能ScanningThermalMicroscopy(SThM)扫描热感显微镜(SThM)OpticalProperties光学性能Tip-EnhancedRamanSpectroscopy(TERS)探针增强拉曼光谱(TERS)Time-ResolvedPhotoCurrentM叩Ping(Tr-PCM)时间分辨的光电流测绘(Tr-PCM)介电/压电性能Dielectric/PiezoelectricProperties ElectricForceMicroscopy(E

23、FM) DynamicContactEFM(DC-EFM)静电力显微镜（EFM）动态接触式静电力显微镜（DC-EFM）PiezoelectricForceMicroscopy(PFM)压电力显微镜(PFM)PFMwithHighVoltage高电压PFM力调制显微镜（FMM）纳米压痕纳米刻蚀高电压纳米刻蚀纳米操纵 压电力显微镜（PFM）MechanicalProperties机械性能ForceModulationMicroscopy(FMM)Nanoidentation NanolithographyNanolithographywithHighVoltageNanomanipulationP

24、iezoelectricForceMicroscopy(PFM)ForceMeasurement力测量 ForceDistance(F-D)Spectroscopy力一距离(F-D)光谱 ForceVolumeImaging力一体积成像 SpringConstantCalibrationbyThermalMethod热噪声法标定弹性系数1. TallSample1.5mstepheight高样品1.5m台阶高度ScanMode:Non-contactmode,TopographyfromZpositionsensor扫描模式：非接触模式，Z位置传感器形貌图2. FlatSampleAtomic

25、stepsofsapphirewafer平样品蓝宝石晶圆的原子台阶0.3nmstepheight,ScanMode:Non-contactmode,TopographyfromZpositionsensor0.3nm台阶高度，扫描模式：非接触模式，Z位置传感器形貌图3. HardSampleTungstenfilm硬样品铝膜ScanMode:Non-contactmode,TopographyfromZpositionsensor扫描模式：非接触模式，Z位置传感器形貌图Firstimage：第一张图，Aftertaking15images：扫描第15张图之后4. SoftSampleColla

26、genfibril软样品胶原原纤维ScanMode:Non-contactmode,TopographyfromZpositionsensor扫描模式：非接触模式，Z位置传感器形貌图TopogQphy:形貌图，Phase：相图ParkNXlOOptionsParkNXlOSICMpermitstrulynon-invasivein-liquidimagingbycombiningtheusageofnanopipetteswithanoforce,non-contacttechniqueunderaqueousconditions.Thisapproachispoweredbyourdedic

27、atedApproach-Retract-Scan(ARS)softwarethatenablesbothSteamlinedscanningautomationthroughnanoscaleprobe-sampledistancecontrol.ParkNXlOSICMisnowavailableforawiderangeofapplicationsrangingfromcellbiology,analyticalchemistry,electrophysiology,andneuroscienceParkNXlOSICMModuleAnewhardwaremoduleforthePark

28、NXlOtoenableScanningIonConductanceMicroscopy(SICM)functionality.ParkNXlOSICM模块 ParkNXlO的新硬件模块有可以扫描离子电导显微镜的功能。XYScanners 10mX10mXYScanner 50mx50mXYScanner 100m100mXYScannerXY扫描器 10m10mXY扫描器 50mx50mXY扫描器 100mX100mXY扫描器ZScannerHeads 15mZScannerHead 30mZScannerHead WideopticalaccessfromthesideZ扫描头 15mZ扫

29、描头 30mZ扫描头 光学变焦从侧面进入TemperatureControll控温台 Heating&Coolingstage(0-180)冷热台(0-180) 250 heating stage 600 heating stageLiquid Cells液体池 Universal Liquid Cell Electrochemistry Cell Open Liquid Cell250C加热台600加热台通用型液池电化学池开放式液池 专门为液体环境成像设计 耐常见缓冲液及弱酸碱腐蚀 在液体环境下实现接触和非接触成像夹式芯片载体 可用于未装载悬臂 可用于导电式AFM和EFM的针尖偏压功能 针尖

30、偏压范围：-10V-IOV磁场发生器 施加外部磁场，平行于样品表面方向 可调磁场强度 强度范围：-300-300高斯,由纯铁芯和双螺线管组成温控隔音罩 易于使用的控件使ParkNXlo可以快速达到温度平衡 快速扫描-可以达到低于0.05C的恒温并在十秒内关闭隔音罩的隔声门。ParkNXlOSpecification规格Scanner扫描器ZscannerZ扫描器Guidedhigh-forceflexurescanner柔性引导高推动力扫描器Scanrange:15m(optional30m)扫描范围：15um(可选30m)Resolution:0.015nm分辨率：0.015nmPositi

31、ondetectornoise:0.03nm(bandwidth:1kHz)位置探测器噪声：0.03nm(带宽：1kHz)Resonantfrequency:9kHz(typically10.5kHz)AFMHead共振频率：9kHz(通常10.5kHz)AFM测头SICMHeadSICM测头Flexure-guidedstructuredrivenbymultiply-stackedpiezoelectricstacks压电叠堆的挠性结构Zscanrange:25mZ扫描范围：25mPositiondetectornoise:0.03nm(bandwidth:1kHz)位置探测器噪声：0.0

32、3nm(带宽：1kHz)XYscannerXY扫描器SinglemoduleflexureXY-scannerwithclosed-loopcontrol闭环控制的柔性引导XY扫描器Scanrange:50m50m(optional10m10mor100m100m)扫描范围：50m50m(可选10m10mor100m100m)Resolution:0.05nm分辨率：0.05nmPositiondetectornoise:0.25nm(bandwidth:1kHz)位置探测器噪声：0.25nm(带宽：1kHz)Out-of-planemotion:2nm(over40mscan)离面运动：2n

33、m(扫描超过40m)Stage驱动台Samplesize:Openspaceupto100mmx100mm,thicknessupto20mm样品容量：最大开放空间为100mm100mm,厚度最大值为20mmSampleweight:upto500g样品重量：最重50OgXYstagetravelrange:20mmx20mmXY位移台行程范围：20mm20mmZstagetravelrange:25mmZ位移台行程范围：25mmFocusstagetravelrange:15mm聚焦样品台行程范围：15mmVision影像Directon-axisvisionofsamplesurfacea

34、ndcantilever样品表面和悬臂的直观同轴影像Field-of-view:480m360m(with10objectivelens)视野：480m360m(IO倍物镜)CCD:1Mpixel(pixelresolution:0.4m)5Mpixel(pixelresolution:0.2m)CCD:1MPiXeI(像素分辨率：0.4m)5MPiXeI(像素分辨率：0.2m)Objectivelens物镜10x(0.2INA)ultra-longworkingdistancelens(lmresolution)10倍(0.2INA)超长工作距离镜头Qm分辨率)20(0.42NA)high-

35、resolution,longworkingdistancelens(0.6mresolution)20倍(0.42NA)高分辨率，长工作距离镜头(0.6m分辨率)Electronics电子Signalprocessing信号处理ADC:18channelsDC:18通道ADCchannels(64MSPS)ADc通道(64MSPS)24-bitADCsforX,YandZscannerpositionsensor24-bitADC的X,Y和Z扫描器位置传感器DAC:11channelsDACllfflilDACchannels(64MSPS)DAC通道(64MSPS)20-bitDACsfo

36、rX,YandZscannerpositioning20-bitDAC的X,Y和Z扫描器定位Maximumdatasize:4096x4096pixels最大数据量：4096x4096像素Integratedfunctions集成功能3channelsofflexibledigitallock-inamplifier3通道数字锁相放大器Springconstantcalibration(Thermalmethod)弹性系数校准(热方法)DigitalQcontrol数据Q控制Externalsignalaccess连接外部信号20embeddedsignalinput/outputports2

37、0个嵌入式输入/输出端口5TTLoutputs:EOFzEOLfEORModulation,andACbias5个TTL输出：EOF,EOLzEORModulation,andACbiasOptions/Modes选项/模式StandardImaging标准成像 TrueNon-ContactMode实际非接触模式 BasicContactMode接触模式 1.ateralForceMicroscopy(LFM)侧向摩擦力显微术(LFM) PhaseImagingMode相位成像模式 TappingMode轻敲模式ChemicalProperties化学性能 ChemicalForceMicr

38、oscopywithFunctionalizedTip功能化探针的化学力显微镜 ElectrochemicalMicroscopy(EC-STMandEC-AFM)电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)Dielectric/PiezoelectricProperties介电/压电性能 ElectricForceMicroscopy(EFM)静电力显微镜 DynamicContactEFM(EFM-DC)动态接触式静电力显微镜(EFM-DC) PiezoelectricForceMicroscopy(PFM)压电力显微镜(PFM) PFMwithHighVoltage高电压PFMForceM

39、easurement力测量 ForceDistance(F-D)Spectroscopy力一距离(F-D)光谱 ForceVolumeImaging力谱成像MagneticProperties磁性能 MagneticForceMicroscopy(MFM)磁力显微镜(MFM) TunableMFM可调MFMThermalProperties热性能 ScanningThermalMicroscopy(SThM)扫描热显微镜(SThM)ElectricalProperties电性能 PinpointConductiveAFM(CP-AFM)Pinpoint导电AFM(CP-AFM) I-VSpec

40、troscopyIT谱线 ScanningKelvinProbeMicroscopy(SKPM/KPM)扫描开尔文探针显微镜(SKPM/KPM) SKPMwithHighVoltage高电压SKPM QuickStepScanningCapacitanceMicroscopy(SCM)QuickStep扫描电容显微镜(SCM) ScanningSpreading-ResistanceMicroscopy(SSRM)扫描电阻显微镜(SSRM) ScanningTunnelingMicroscopy(STM)扫描隧道显微镜(STM) ScanningTunnelingSpectroscopy(ST

41、S)扫描隧道光谱(STS) PhotoCurrentMapping(PCM)光电流测绘(PCM) Current-distance(Id)Spectroscopy(withSICM)SICMCurrent-distance(Id)Spectroscopy(舍M007-gJOj企月M5中上gj丛7星契3)MechanicalProperties机械性能 PinpointModePinpoint模式 ForceModulationMicroscopy(FMM)力调制显微镜(FMM) Nanoindentation纳米压痕 NanolithograPhy纳米刻蚀 NanolithographyWit

42、hHighVoltage高电压纳米刻蚀 Nanomanipulation纳米操纵Software软件ParkSmartScanwParkSmartScanw AFMsystemcontrolanddataacquisitionsoftwareAFM系统控制和数据采集的专用软件 Automodeforquicksetupandeasyimaging智能模式的快速设置和简易成像Manualmodeforadvanceduseandfinerscancontrol手动模式的高级使用和更精密的扫描控制XEIXEI AFMdataanalysissoftwareAFM数据分析软件 Stand-alone

43、designcaninstallandanalyzedataawayfromAFM 独立设计可独立安装和分析数据 Capableofproducing3Drendersofacquireddata能够生成采集数据的3D绘制Accessories配件ElectrochemistryCellUniversalLiquidCellwithTemperatureControlSampleStageswithTemperatureControlGIoveBox手套箱MagneticFieldGenerator磁场发生器ActiveTemperatureControlledAcousticEnclosure温控隔音罩Dimensionsinmm尺寸单位为亳米GloveBox(Optional)手套箱(可选)