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1、/dtUDC621.790.05：2.17B.6HZ4中华人民共和El1l-l旦家标准G胞134589中俨避20九毕9也褥钢焊缝手工超声波探伤方法和探伤结果分级Methodformanualultrasonictestingandclassificationoftestingresultsforferriticsteelwelds阻1990-01 -01 实施丁吊2281989-05-08发布国家技术监督局发布目次1主题内容与适用范围:(1)2弓I用标准1*.*(1)3术语八二.:(14检验人员*(4)5探伤仪、探头及系统性能:“30dB】b.斜探头：Z6dB。5探伤仪、探头及系统性能和周期检
2、查.5.4.1探伤仪、探头及系统性能，除灵敏度余量外，均应按2BJ04001的规定方法进行测试。5.4.2探伤仪的水平线性和垂直线性，在设备首次使用及每隔3个月应检查一次。5.4.3斜探头及系统性能，在表规定的时间内必须检查一次。表1斜探头及系统性能检查周期检Jfe项目检查押期前沿距离折射角或K值保高角开始使用及每隔6个工作日灵敏度余国分辨力开始便用、修朴后及每隔1个月6试块6.1杯唯试块的形状和尺寸见附录A,试块制造的技术要求应符合ZB232的规定,读试块主要用于测定探伤仪、探头及系统性能。6.2耳比试块的形状和尺寸见附录B。6.2.1对比试块采用与被捡验材料相同或声学性能相近的钢材制成。试
3、块的探测面及假:面，在以2.5MHZ以上频率及高灵敏条件下进行检验时，不得出现大于距探测面20mm处的d2mm平底孔反射回来耐回波幅度1/4的缺陷回波,6.2.2试块上的标准孔，根据探伤需要，可以采取其他形式布置或添加标准孔,但应注意不应与试块端角前相邻标准孔的反射发生混淆。.6.2.3检验曲面工件时，如探伤面曲率半径R小于等于，时，应采用与探伤面曲率相同的对比试块。反射体的布置可参照对比试块确定，试块宽度应满足式(1),式中：匕一一试块宽度，mm:4波,mm.S声程，m；Dt声源有数直径.mm。$.3现场检验，为校验灵敏度和时基线，可以采用其他型式的等效试块。7检验等级7.1检跪等级的分级.
4、根据质量:要求检验等级分为A、B、C三级，检验的完善程度A级最低，B级一般，C级最高，检验工作的堆度系数按A、B,C顺序逐级增高。应按照工件的材质、结构、焊接方法、使比条件及承受载荷的不同，合理的选用检验级别.检验等级应按产品技术条件和有关规定选择或经合同双方协商选定。-*注1A级难度系敷为1IB级为56tC级为10L2.本标准给出了三个检验等级的检验条件，为避免焊件的几何形状限制相应等级检照的有效性，设计、工艺人员应在考虑超声检验可行性的基础上进行结构设计和工艺安排。-7.2检验等级的检验范因7.2.1A级检验采用一种角度的探头在焊缝的单面单侧进行检验,只对允许扫查到的焊缝截面进行探测。一般
5、不要求作横向缺陷的检验。母材厚度大于50mm时，不得采用A级检验。7,2.2B级检验原则上采用一种角度探头在焊缝的单面双侧进行检验，对整个埠缝威面进行探测。母材厚度大于100mnI时，采用双面双侧检0。受几何条件的限制，可在捏健的双面单侧采用两种角度探头进行探伤。条件允许时应作横向缺陷的检验。7.2.3C级检跪至少要采用两种角度探头在焊雄的单面双(01进行检骏。同时要作两个扫查方向和两种探头角度的横向缺陷检验。母材厚度大于l。6mm时，采用双面双侧检验。其他附加要求是La.对接焊缝余高要磨平，以便探头在焊缝上作平行扫查Ib.焊缝两侧斜探头扫查经过的母材部分要用直探头作检查I*c.焊缝母材厚度大
6、于等于100m,窄间隙焊缝母材厚度大于等于40mm时，一般要增加串列式扫查，扫查方法见附录C。8检验准备8,1探伤面8,1.1按不同检验等级要求选择探伤面O推养的探伤面如图5和表2所示。图5侧和面.表2探伤面及使用折射角板厚，mm探伤面探伤法使用折射角或K值ABC50*100直射法4560rl45和60,4旷和70；井用(Kl或Ki.5$Kl和Kl3.Kl和K2.Q并用)100双面双Mi45和60：井用（Kl和Ki5或K2并用）8.EZ检验区域的宽度应是焊缝本身再加上焊缝两侧各相当于母材厚度30%的一段区域,这个区域最小IOmm,最大20mm见图6。8J.3探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢
7、及其他外孤杂质。探伤表面应平整光滑，便于探头的自由扫查，其表面粗糙度不应超过6.3um,必要时应进行打磨。a.采用，次反射法或串列式扫查探伤时，探头移动区应大于】.25PFF=26tg万（2）或P=2dK（3）式中：P跨距，mmI6母材厚度，mm。b采用直射去探伤时，探头移动区应大于0.75户。8.1-4去除余高的焊缝，应将余高打磨到与邻近母材平齐。保留余高的焊缝，如焊缝表面有咬边，较大的隆起和凹陷等也应进行适当的修磨，井作国）滑过渡以免影响检验结果的评定。8,1.5焊缝检鉴前，应划好检鳖区段，标记出检验区段编号。8检验频率检验频率/一般在25MHz范围内选择，推荐选用22.5MHz公称频率检
8、验.特殊情况下，可选用低于2MHz或高于2.5MHZ的检验频率，但必须保证系统灵敏度的要求。8.3探头角度83.1斜探头的折射角H或A值应依据材料厚度，焊缝坡口型式及预期探测的主要缺陷种类来选择。对不同板厚推荐的探头角度和探头数量见表2。8.3.2串列式扫查，推荐选用公称折射角均为45的两个探头,两个探头实际折射角相差不应黜过2,探头前沿长度相差应小于2mm。为便于探测厚焊缝坡口边缘未熔合缺陷，亦可选用两个不同角度的探头，但两个探头角度均应在3555。范围内。*4耦合剂机4.1应选用适当的液体或糊状物作为耦合剂，耦合剂应具有良好透声性和适宜流动性,不应对材料和人体有损伤作用，同时应便于检验后清
9、理。8.4.2典型的耦合剂为水,机油、甘油和浆糊，耦合剂中可加入适量的润湿剂或活性剂以便改善蠲合性能68.4.3在试块上调节仪器和产品检验应采用相同的耦合剂。8.5母材的检查采用C级检验时,斜探头扫杳声束通过的母材区域应用直探头作检查，以便探测是否有影响斜角探伤结果解释的分层性或其他种类缺陪存在。该项检杳仅作记录，不属于对母材的验收检验。母材捡查的规程要点如下，.方法：接触式脉冲反射法一采用频率25MHz的直探头，晶片直径1025mm，b.灵敏度：将无缺陷怀二次底波调节为荧光屏满幅的100%I:记录：凡缺陷信号幅度超过荧光屏满幅20%的部位，应在工件表面作出标记，并予以记录。9仪器调整和校险.
10、8.1时基线扫描的调节荧光屏时基线刻度可按比例调节为代表缺陷的水平距离I（简化水平距离厂）:深度Al或声程S见图7.图7时基线扫描调节示意图8.11探饬面为平面时，可在对比试块上进行时基线扫描调节，扫描比例依据工件厚度和选用的探头角度来确定，最大检范围应调至荧光屏时基线满刻度的2/3以上。u,n9.1.2探饬面曲率半径R大于三一时,可在平面对比试块上或与探伤面曲率相近的曲面对比试块上，进行时基线扫描调节s9.1-3探饬面曲率半径R小于等于丁时，探头楔块应磨成与工件曲面相吻合，在6.2.3条规定的对比试块上作时基线扫描调节。g.2距离波幅（DAC）曲线的绘制9.2.1距离波幅曲线由选用的仪器、探
11、头系统在对比试块上的实测数据绘制见图8,其绘制方法见附录D,曲线由判废城RL,定晟线SL和评定线EL组成，不同验收级别的各线灵敏度见表3。表中的DAC是以d3tnm标准反射体绘制的距离-波幅曲线即DAC基准线.评定线以上至定量线以下为I区（弱信号评定区K定量饯至判废线以下为口区（长度评定区力判废线及以上区域为In区（判废区$sm表3距离-波幅曲线的灵敏度ABC板厚，mmDAC8-508*308300判废线DACDACrdBDACTdB定量线DAC-IOdB.DAC-IOdBDAC-8dBi定线DAlCTSdBDAC-16dBDAC-MdB9.2.2探测横向缺陷时，应将各线灵敏度均提高6dB。9
12、.2.3探伤面曲率半径R小于等于牛时，距离波幅曲线的绘制应在曲面对比试块上进行。9.2.4受检工件的表面耦合损失及材质衰减应与试块相同，否则应进行传输损失修整见附录E,在1跨距声程内最大传输损失差在2dH以内可不进行修整。9.2.5距离-波幅曲线可绘制在坐标纸上也可直接绘制在荧光屏刻度板上，但在整个检验范围内，曲线应处于荧光屏满幅度的20%以上，见图9,如果作不到，可采用分段绘制的方法见图10。C .9.3仪器圈整的校照9.3.1每次检验前应在对比试块上，对时彭扫描比例和距离波幅曲线（灵敏度）进行调节或校验。校验点不少于两点。9.3.2检验过程中每4h之内或检验工作结束后应对时基线扫描和灵敏度
13、进行校验，校验可在对比试块或其他等敕试块上进行.9.3.3扫描调节校验时,如发现校播点反射波在扫描线上偏移超过原校验点刻度读数的10%或满刻度的5%（两者取较小值），则扫描比例应重新调整,前次校验后已经记录的缺陷，位置参数应重新抑定,并予以更正。93.4灵敏度校验时，如校验点的反射波幅比距离一波幅曲线降低20%或2dB以上,则仪器灵敏度应重新调整，并对前次校验后检查的全部焊缝应重新检验。如校验点的反射波幅比距离波幅曲线增加20%或2dB以上，仪器灵敏度应重新调整，而前次校验后，已经记录的缺陷,应对缺陷尺寸参数重新溯定井予以评定。10初始检验to.一般要求W.1.1超声检验应在焊缝及探伤表面经外
14、观检查合崔并满足81.3条的要求后进行.10.1.2检验前，探伤人员应了解受检工件的材质、结构、曲率、厚度、焊接方法，焊缝种类、坡口形式、焊缝余高及背面衬垫、沟槽等情况。10.1.3探伤灵敏度应不低于评定线灵敏度。WJ.4扫查速度不应大于15Omm/,相邻两次探头移动间隔保证至少有探头宽度10%的重叠。W15对波幅超过评定线的反射波，应根据探头位置，方向.反射波的位置及10.1.2条了解的焊缝情况，判断其是否为缺谄。判断为缺陷的部位应在焊缝表面作出标记。10.2平板对接焊缝的检险10.2.1为探副纵向缺陷，斜探头垂直于焊缝中心线放置在探伤面上，作锯齿型扫杳见图U。探头前后移动的范围应保证扫在到
15、全部焊缝截面及热影响区。在保持探头垂直焊缝作前后移动的同肘，还应作1015的左右转动。图U锯出形扫查10.2.2为探测焊缝及热影响区的横向缺陷应进行平行和斜平行扫查。a.B级检验时，可在焊缝两侧边缘使探头与焊缝中心线成10。20”作斜平行扫查（图】2）:Ifi图12斜平行扫查bC级检验时，可将探头放在焊缝及热影响区上作两个方向的平行扫查（图13）,煽缝母材厚度超过100mm时，应在焊缝的两面作平行扫查或者采用两种角度探头（45。和60或45。和70并用）作单面两个方向的平行扫查；亦可用两个45。探头作串列式平行扫查:c.对电渣焊缝还应增加与焊缝中心线成45的斜向扫查。102.3为确定缺陷的位置
16、，方向、形状、观察缺隐动态波形或区分缺陷讯号与伪讯号，可美用前后、左右、转角、环绕等四种探头基本扫查方式（图14）。KWB1Sfi0上、前后左右曜角环SJ图1.4四种基本扫查方法10.3曲面:件对接焊缝的检验10.3.1探伤面为曲面时，应按623和9.1.3条的痂定选用对比试块，并采用10.2条的方法进行检验.C级检验时，受工件几何形状限制，横向缺陷探测无法实施时，应在检验记录中予以注明。10.3.2环缝检验时，对比试块的曲率半径为探伤面曲率半径0.9L5倍的对比试块均可采用。探测横向缺陷时按10.3.3条的方法进行。10.3.3纵缝检验时，对比试块的曲重半径与探伤面曲室半径之差应小于10%。
17、10.3.3.1根据工件的曲率和材料厚度选择探头角度，并考虑几何临界角的限制，确保声束能扫查到整个焊缝厚度。条件允许时，声束在曲底面的人射角度不应超过70。W.3.8.2探头接触面修磨后，应注意探头人射点和折射角或K值的变化，并用曲面试块作实际测定.W.3.3.3当R大于今采用平面对比试块调节仪器时，检骏中应注意到荧光屏指示的缺陷深度或水平距离与缺陷实际的径向埋藏深度或水平距离孤长的整异，必要时应进行修正。W.4其他结构焊缝的检验10.4.1一般原则a.尽可能采用平板焊缝检验中已经行之有效的各种方法Ib.在选择探伤面和探头时应考虑到检测各种类型缺陷的可能性，并使声束尽可能垂直于该结构焊缝中的主
18、要缺陷。10*4.2T型接头10.4.2.1腹板厚度不同时，选用的折射角见表4,斜探头在腹板一侧作直射法和一次反射法探伤见图15位置2。表4腹板厚度与选用的折射角股板厚度mm折射用（）5045tK】，KO10.4.2.2采用折射角45,（Kl探头在腹板一侧作直射法和一次反射法探测探缝及腹板侧热影响区的裂纹（图16）。图16T型接头W4.Z.3为探侧腹板和翼板间未饵透或翼板倒焊缝下层状撕裂等缺陷，可采用直探头（图15位置1）或斜探头（图16位置3）在翼板外侧探伤或采用折射角45：（Kl）探头在翼板内倒作次反射法探伤（图15位置3）.10.4.3角接接头角接接头探伤面及折射角一般按图17和表4选择
19、。图17角接接头10.4.4皆座角捏缝.W.4.4.1根据焊缝结构形式，管座角焊缝的检验有如下五种探测方式，可选择其-一种或几种方式组合实施检验。探测方式的选择应由合同双方商定，并重点考虑主要探测对象和几何条件的限制（图18,19）。e.在接管内壁表面采用直探头探伤（图18位置1）:，在容器内表面用直探头探伤（图19位置1）,c在接管外表面采用斜探头探伤（图t9位置2）d在接管内表面采用斜探头探伤（图18位置3,图】9位置3e.在容器外表面采用斜探头探伤（图18位置2）。10.4.4.2管座角焊缝以直探头检验为主，对直探头扫查不到的区域或结构，缺陷方向性不适于采用直探头核验时，可采用斜探头检验
20、，斜探头检险应符合0.4条的规定。104.5直探头检验的损程a推荐采用频率2.5MHZ直探头或双晶直探头，探头与工件接触面的尺寸%应小于2b灵敏度可在与工件同曲率的试块上调节，也可采用计算法或DGS曲线法，以工件底面回波调节。其检赛等级评定见表5。IlGB113458911规定检验11.1-般要求ILl规定检脸只对初始检验中被标记的部位进行检验。111-2探伤灵敏度应调节到评定灵敏度。11.1.3对所有反射波幅超过定量线的缺陷，均应确定其位置，最大反射波幅所在区域和缺陷指示长度。11.2最大反射波幅的澜定11.2.1-对判定为缺陷的部位，采取10.2.3条的探头扫查方式、增加探伤面、改变探头折
21、射角度进行探测，测出最大反射波幅并与距离一波幅曲线作比较,确定波幅所在区域。波幅刑定的允许误差为2dB。11-2.2最大反射波幅K与定量段SL的dB差值记为SL土-dB。H8位置参数的定11.3/缺陷位置以获得缺陷最大反射波的位置来表示，根据相应的探头位置和反射波在荧光屏上的位置来确定如下全部或部分参数。a纵坐标上代表缺陷沿焊缝方向的位置。以检验区段编号为标记基准点（即原点）建立坐标。坐标正方向距离L表示缺陷到原点之间的距离见图2（h记为Ll图20纵坐标L示意图b.深度坐标h代表缺陷位置到探伤面的垂直距寓（mm）。以缺陷最大反射波位置的深度值表示:c.横坐标g代表缺陷位置离开焊缝中心线的垂直距
22、离，可由缺陷最大反射波位置的水平距腐或简化水平距寓求得。11.3.2缺陷的深度和水平距离（或简化水平距离）两数值中的一个可由缺陷最大反射波在荧光屏上的位置U接读出,另一数值可采用计算法、曲线法、作图法或缺殖定位尺求出。11/尺寸参数的测定应根据缺陷最大反射波幅确定缺陷当量值少或测定缺陷指示长度AJ。11.4.1缺陷当量，用当量平底孔直径表示，主要用于直探头检脸，可采用公式计算，DGS曲线，试块对比或当域计算尺确定缺陷当埴尺寸。11.4.2缺陷指示长度Af的测定推荐采用如下二种方法。a.当敏陷反射波只有一个高点时，用降低6dB相对灵敏度法测长见图214 RP 将量大反射源岐暄指示长度探头移动长度
23、.叫图21相对灵敏度测长法b在测长扫查过程中，如发现缺陷反射波峰值起伏变化，有多个高点，则以缺陷两端反射波极大值之间探头的移动长度确定为缺陷指示长度，即端由峰值法见图22。图22端点峰值测长法】2缺陷部定12.1超过评定线的信号应注意其是否具有裂纹等危害性缺Pg特征,如有怀疑时应采取改变探头角度,增加探伤面、观察动态波型、结合结构工艺特征作判定，如对波型不能准确判断时，应辅以其他检验作综合判定。12.2最大反射波幅位于U区的缺陷，其指示长度小于IOmm时按5mm计。12.3相邻两缺陷各向间距小于8mm时，两缺P指示长度之和作为单个缺陷的指示长度。13检哈结果的等级分类13.1最大反射波幅位于口
24、区的缺陷.根据缺陷指示长度按表6的规定予以评级.,表6缺陷的等级分类Tf级ABC津定等级，mm85Q83Q08-300九展小】2史最小10,3I最30殳最小10,不i大州DIM最小122.最小12,3最大506小】0*2最大30IUCi最小20S3最小16,4最大75Zd最小12,不:最火50IV帽过三级者注，13为坡口加匚耗母材板摩，母材板厚不同时.以较薄州板厚为渔.管座鲁伸缝d为虾缝融面中心雄高度。.132最大反射波幅不超过评定线的缺陷，均评为I级。13.3最大反射波幅超过评定线的缺陷，检验者判定为裂纹等危害性缺陷时，无论其波幅和尺寸如何,均评定为NSL13.4反射波幅位于1区的非裂纹性缺
25、陷，均评为I级。13.5反射波幅位于ID区的缺陷，无论其指示长度如何，均怦定为IV级。13-6不合格的缺陷，应予返修，返修区域修补后，返修部位及”焊受影响的区域，应按原探伤条件进行复验，熨探部位的缺陷亦应按12竞评定。U记录与报告14检验记录主要内容：工件名称、编号、焊缝编号、坡口形式、焊缝种类、址材材质、规格、表面情况、探伤方法、检验规程、验收标准、所使用的仪器、探头、耦合剂、试块、扫描比例，探伤灵敏度。所发现的超标缺陷及评定记录，检验人员及检验日期等。至射波幅位于D区，其指示长度小于表6的缺陆也应予记录.14.2检脸报告主要内容：工件名称、合同号、编号、探伤方法、探伤部位示意图，检验范围、
26、探伤比例验收标准、缺Pa情况、返修情况，探伤结论、检验人员及审核人员签字等。14.3检验记录和报告应至少保存7年。14.4检验记录和报告的推荐格式见附录F。附录A标准试块的形状和尺寸（补充件）图AlCSK-ZB试块注，尺寸公箜o.1,善边垂直度不大于0.05，C面为尺寸*准面，上部各折射角划度尺寸俯见表A1.下部见表A2.表A】折射角值606264时6870727374756尺寸值87.091.496.5102.4109.3117.4127.3133.1139.6147.0)55.3表A2折射：frt404】424344t45464酎484S50*51。5*尺寸俏93.795.998.0100
27、.3102.6105.0107.5IlOJ112.7115.5118.4121.4124.6折射角值535455，56575T59606J623665966尺寸值127.9131.3I35+Q138.8】42.8147.0151.5156.2161.2166.7172.4178.5&J192.2附录B对比试块的形状和尺寸（补充件）Bt对比试块的形状和尺寸见表Bi。表B1对比试块mmIw注:J.尺寸公差土OJmmt.各边垂直度不大于O.h表面粗槌度不大于6.3mni：工标准孔与加:面的平一行度不大于心峙*附录C串列扫查探饬方法（补充件）C1探饬设备CLl超声波探伤仪的工作方式必须具备一发一收I：
28、作状态。C1.2为保证一发一收探头相对于串列基准线经常保持等距腐移动,应配备适宜的探头夹具，并适用于横方型及纵方型两种扫查方式。C1.3推荐采用，频率22.5MHz,公称折射角45，探头，两探头人射点间最短间距应小于20mm.C2仪器调整C2.1时基线扫描的调节采用单探头按标准正文第9.!条的方法调节，最大探测范围应大于1跨距声程。,C2.2灵敏度调整在工件无缺陷部位，将发、收两探头对向放置，间距为1跨距，找到底面最大反射波见图C1及式C,凋节增益使反射波幅为荧光屏满幅高度的40知，并以此为甚准波高。灵敏度分别提高8dB、MdB和20dB代表判废灵敏度、定坡灵敏度和评定灵敏度。图CI灵敏度调节
29、C8检验程序C3.1检验准备a探伤面对接焊缝的单面双便，b串列基准线如发、收两探头实测折射角的平均值为歹或K值平均为片.在离参考城（参考线至探伤截面的距忠L-0.5尸）的位置标记串列基准城，见图C2及式C2。图C2串列基准空的标记0.5P=喧耳（C1）或0.5P=dK（C2）C3.2初始探伤C3.2.1探伤灵敏度不低于评定灵敏度。C3.2.2扫查方式采用横方形或纵方形串列扫查，扫查范围以串列基准线为中心尽可能扫查到整个探伤截面，每个探伤能面应扫查一遍。C3.2.3标记超过评定线的反射波，被判定为缺陷时，应在焊缝的相应位置作出标记。C8.3规定探伤C8.3.1对象只对初始检验标记部位进行探伤。C
30、3.3.2探伤灵敏度为评定灵敏度。C3.3.3缺陷位置不同深度的缺陷，其反射波均出现在相当于半跨距声程位置见图C3。缺陷的水平定寓和娥4眦：y（C3）tY（C4）图C3串列打查缺陷定位C3.3.4峡陷反射波帽在最大反射彼探头位置，以40%线为基准波高测出缺陷反射波的dB数作为缺陷的相对波幅，记为SE-）B.C3.3缺Pg指示长度的测定采用以评定灵敏度为测长灵敏度的勉对灵敏度法测量缺陷指示长度.即进行左右扫查（横方形串列扫查），以波幅超过评定线的探头移动范围作为缺陷指示长度。C4缺陷评定所有反射波幅度超过评定线的缺陷均应按标准正文第12章的规应予以评定，并按第13承的规定对探伤结果作等级分类。附
31、条D也寓一波幅（DAC）曲线的制作（补充件）Dl试块DM采用标准附录B对比试块或其他等效形式试块绘制DAC曲线。D1.2R小于等于丁时，应采用探伤面曲率与工件探伤面曲率相同或相近的对比试块。4D2绘制步骤：DAC曲线可绘制在坐标如上（称DAC曲线），亦可直接绘制在荧光屏前透明的刻度板上（称DAC曲线板LD21DAC曲线的绘制步骤如下1,*将测试范M调整到探伤使用的最大探测范围，并按深度、水平或声程法调整时基线扫描比例Ib.根据工件厚度和曲率选择合适的对比试块，选取械块上孔深与探伤深度相同或接近的横孔为第一基准孔，将操头置于试块探伤面声束指向该孔，调节探头位置找到横孔的最高反射波:c调节增益或衰
32、减器使该反射波幅为荧光屏上某一高度（例如满幅的40%）该波高即为基准波高。此时，探伤系烧的有效灵敏度应比评定灵敏度高IOdB1d.调节衰减器，依次探测其他横孔，井找到最大反射波高，分别记最各反射波的相对波幅值dB.）e，以波幅（dB）为纵坐标，以探刑距离（声程、深度或水平距离）为横坐标，将c、d记录数值描绘在坐标纸上，f将标记各点连成圆滑曲线，并延长到整个探测范围，最近探溯点到探测距离O点间画水平线，该曲线即为43mm横孔DAC曲线的基准线I%依据标准正文表3规定的各线灵敏度，在基准线下分别绘出判废线、定寸线、评定线，并标记波幅的分区Ih为便于现场探伤校验灵敏度，在测试上述数据的同时，可对现场
33、使用的便携试块上的某一参考反射体进行同样测反，记录其反射波位置和反射波幅（dB）并标记在DAC曲线图上。D2.2DAC曲线板的绘制步骤如下*a.同D2.a，依据工件厚度和曲率选择合适的对比试块，在试块上所有孔深小于等于探测深度的孔中，选取能产生最大反射波幅的横孔为第一基准孔,c.调节增益使该孔的反射波为荧光屏满幅高度的80%,将其峰值标记在荧光屏前辅助面板上。依次探测其它横孔，并找到最大反射波高，分别将峰值点标记在辅助面板上，如果做分段绘制，可调节衰减器分段绘制曲城，d将各标记点连成圆滑曲线，并延伸到整个探测范围，该曲线即为03mm横孔DAC曲线基准线,e.将灵敏度提高（850mm提高到IOd
34、B,50300mm提高IOdB或8dB）,该饯表示定量线。在定量灵敏度下，如分别将灵敏度提高或降低6dB,被线将分别代表评定或判废线。（A级检验DAC基准线即为判废线），f在作上述测试的同时，可对现场使用的便携式试块上的某一参考反射体作同样濯量，井将其反射波位置和峰值标记在曲绘板匕以便现场进行灵敏度校验。附录E声能传输损耗差的测定（补充件）工件本身反射波幅度有影响的两个主要因素是材料的材质衰减和工件表面粗糙度及揭合情况造成的表面声能损失。超声波的材质衰减对普通碳钢或低合金钢板材，在微率低于3MHz声程不超过20OmnI时，可以忽略不记，或者一般来说衰减系数小于001dB,mm时,材质衰减可以不
35、予考虑，标准试块和对比试块均应满足这一要求。受检工件探伤时，如声程较大，或材质衰减系数ig过上述范围，在确定缺陷反射波幅时，应考虑作材料衰减修整，如被检工件表面比较粗楮还应考虑表面声能损失问翘。E1横波超声材质衰减的测量E1.1制作与受检工件材质相同或相近,厚度约40mm表面粗糙度与对比试块RB相同的半面型试块图E1。E1采用工件检验中使用的斜探头按深度I：1调节仪器时基拦描。E1.3另选用一只与该探头尺寸、做率、角度相同的斜探头，两探头按图El所示方向置于平板试块上，两探头入射点间距置为1户，仪器调为一发一收状态，找到接收波最大反射波幅，记录其波幅值/1（dB）a图Ei超声衰减的测定EI-*将两探头拉开到距高为2 P,找到最大反射波幅，记录其波幅值H? SB。E 1.5实际探伤中超声波总是往返的，故双程的衰减系数WH可用下次计算:Oh(ED.E2.4在受检工件板材上(不通过焊缝)同样测出接收波最大反射波幅，记录其波幅值国WB几E2.5传输损失差A尸为：AK=Hj-Hi-I-2(E5)式中：3声程S1、S?不考虑材质衰减时大平面的反射波幅dB差，可用公式201。R削计算或从探头的D、G、S曲上查得，dB,S1在对比试块中的声程，mmISz-在工件板材中的声程，mm:?-拭块中声程S时与工件中声程SZ时的超声材质衰减差值，dB。如试块图El按E1测量材质衰减系数小于0.0I
