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1、塞曼效应1896年，荷兰物理学家塞曼P.Zeeman在实验中发现，当光源放在足够强的磁场中时，原来的一条光谱线会分裂成几条光谱线，分裂的条数随能级类别的不同而不同，且分裂的谱线是偏振光。这种效应被称为塞曼效应。需要首先指出的是，由于实验先后以与实验条件的缘故，我们把分裂成三条谱线，裂距按波数计算正好等于一个洛伦兹单位的现象叫做正常塞曼效应洛伦兹单位。而实际上大多数谱线的塞曼分裂谱线多于三条，谱线的裂距可以大于也可以小于一个洛伦兹单位，人们称这类现象为反常塞曼效应。反常塞曼效应是电子自旋假设的有力证据之一。通过进一步研究塞曼效应，我们可以从中得到有关能级分裂的数据，如通过能级分裂的条数可以知道能
2、级的值；通过能级的裂距可以知道因子。塞曼效应至今仍然是研究原子能级结构的重要方法之一，通过它可以准确测定电子的荷质比。一实验目的1.学习观察塞曼效应的方法观察汞灯发出谱线的塞曼分裂；2.观察分裂谱线的偏振情况以与裂距与磁场强度的关系；3.利用塞曼分裂的裂距，计算电子的荷质比数值。二实验原理1、谱线在磁场中的能级分裂设原子在无外磁场时的某个能级的能量为，相应的总角动量量子数、轨道量子数、自旋量子数分别为。当原子处于磁感应强度为的外磁场中时，这一原子能级将分裂为层。各层能量为 1其中为磁量子数，它的取值为，.，共个；为朗德因子；为玻尔磁矩；为磁感应强度。对于耦合 2假设在无外磁场时，光源某条光谱线
3、的波数为 3式中 为普朗克常数；为光速。而当光源处于外磁场中时，这条光谱线就会分裂成为假设干条分线，每条分线波数为别为所以，分裂后谱线与原谱线的频率差波数形式为 4式中脚标1、2分别表示原子跃迁后和跃迁前所处在的能级，为洛伦兹单位，外磁场的单位为特斯拉，波数的单位为 。 的选择定如此是：时为 成分，是振动方向平行于磁场的线偏振光，只能在垂直于磁场的方向上才能观察到，在平行于磁场方向上观察不到，但当时，的跃迁被禁止；时，为成分，垂直于磁场观察时为振动垂直于磁场的线偏振光，沿磁场正方向观察时，为右旋偏振光， 为左旋偏振光。假设跃迁前后能级的自旋量子数都等于零，塞曼分裂发上在单重态间，此时，无磁场时
4、的一条谱线在磁场作用下分裂成三条谱线，其中对应的仍然是态，对应的是态，分裂后的谱线与原谱线的波数差。这种效应叫做正常塞曼效应。下面以汞的谱线为例来说明谱线的分裂情况。汞的波长的谱线是汞原子从到能级跃迁时产生的，其上下能级的有关量子数值和能级分裂图形如表11所示。表11原子态符号01121、0、12、0、21223/22、1、0、1、23、3/2、0、3/2、3可见，的一条谱线在磁场中分裂成了九条谱线，当垂直于磁场方向观察时，中央三条谱线为成分，两边各三条谱线为成分；沿磁场方向观察时，成分不出现，对应的六条线分别为右旋和左旋偏振光。2、法布里珀罗标准具塞曼分裂的波长差很小，波长和波数的关系为，假
5、设波长的谱线在的磁场中，分裂谱线的波长差约只有。因此必须使用高分辨率的仪器来观察。本实验采用法布里珀罗标准具。标准具是由平行放置的两块平面玻璃或石英玻璃板组成，在两板相对的平面上镀有高反射率的薄银膜，为了消除两平板背面反射光的干预，每块板都作成楔形。由于两镀膜面平行，假设使用扩展光源，如此产生等倾干预条纹。具有一样入射角的光线在垂直于观察方向的平面上的轨迹是一组同心圆。假设在光路上放置透镜，如此在透镜焦平面上得到一组同心圆环图样。 在透射光束中，相邻光束的光程差为 5 取 6产生亮条纹的条件为 7式中为干预级次；为入射光波长。 我们需要了解标准具的两个特征参量是1、 自由光谱围标准具参数 或同
6、一光源发出的具有微小波长差的单色光和 ，入射后将形成各自的圆环系列。对同一干预级，波长大的干预环直径小，所示。如果和的波长差逐渐加大，使得的第级亮环与的第级亮环重合，如此有 8 得出 9由于大多数情况下，8式变为 并带入9式，得到 10 它明确在中，当给定两平面间隔后，入射光波长在间所产生的干预圆环不发生重叠。 2、 分辨本领 定义为光谱仪的分辨本领，对于标准具，它的分辨本领为 11为干预级次，为精细度，它的物理意义是在相邻两个干预级之间能分辨的最大条纹数。依赖于平板外表反射膜的反射率。 12反射率越高，精细度就越高，仪器能分辨开的条纹数就越多。利用标准具，通过测量干预环的直径就可以测量各分裂
7、谱线的波长或波长差。参见图2，出射角为的圆环直径与透镜焦距间的关系为 ，对于近中心的圆环很小，可以认为，于是有 13 代入到7式中，得 14 由上式可推出同一波长相邻两级和级圆环直径的平方差为 15 可以看出，是与干预级次无关的常数。设波长和的第级干预圆环直径分别为和，由14式和15式得得出波长差 16波数差 173、 用塞曼效应计算电子荷质比对于正常塞曼效应，分裂的波数差为代入测量波数差公式17，得 18 假设和，从塞曼分裂中测量出各环直径，就可以计算出电子荷质比。三试验容通过观察绿线在外磁场中的分裂情况并测量电子荷质比。1、 在显示器上调整并观察光路。 实验装置图1、在垂直于磁场方向观察和
8、纪录谱线的分裂情况，用偏振片区分成分和成分，改变励磁电流大小观察谱线分裂的变化，同时观察干预圆环中成分的重叠。2、在平行于磁场方向观察纪录谱线的分裂情况与变化。3、利用计算机测量和计算电子的荷质比，打印结果。四原始数据记录：见附页五数据处理与分析：1.计算电子荷质比：测量圆环直径：见附页图中标注；经过测量可得 Dk-1,1=27.2cm; Dk-1,2=28cm; Dk,2=20.6cm; 计算电子荷质比Dk-12- Dk2=Dk-1,12- Dk,12+Dk-1，22- Dk,22+Dk-1,32- Dk，32/3 =27.22-19.62+282-20.62+28.72-21.52/3 c
9、m2 =358.92 cm2Db2-Da2=Dk-1,22- Dk-1,12+Dk-1,32- Dk-1,22+Dk,22- Dk,12+Dk,32- Dk,22/4 =(44.16+39.69+40.2+37.89) /4 cm2 =40.485 cm2再取n=1.458(玻璃)108m/s, B=907mT代入公式 得：1011C/kg 计算相对误差： 电子荷质比的理论计算值为：1011C/kg 电子荷质比的相对百分误差为： Er= 10111011/1011100% =10.2%误差分析：1. 测量磁场时霍尔元件可能未与磁场完全垂直而导致测量的磁场偏小而导致误差；2. 未能给出法珀腔介质
10、折射率而是使用n=1代替而导致误差；3. 在图上找圆心时不够准确而导致误差；4. 打印出来的圆环不够清晰以与圆环有一定宽度导致测量直径时产生误差。2验证外加磁场强度与电流的线性关系：磁场随电流变化的数据记录：电流I/A磁场B/mT1147 1109 1094 1053 1003933 电流I/A 0磁场B/mT 843 720 591 442 335 33B-I曲线拟合： 将上述数据拟合得到的B-I曲线为：纵坐标单位为mT，横坐标单位为A结果分析： 在电流较低时线性关系符合得很好，在误差允许围，也过原点，但电流过大时曲线下翘，这是因为做电磁线圈用的材料产生的磁场有饱和值，当达到饱和值后，再增大
11、电流，磁场就不会线性增长了。六问题回答： 1. 假设法珀腔外外表平行的话，由外表反射回的光线将与外外表反射光线平行，可能会发生干预而影响实验结果。调整技巧：实验时当眼睛上下左右移动时候，圆环无吞吐现象时说明F-P标准具的两反射面根本平行了。当发现未平衡时，利用标准具上的三个旋钮来调节水平。如果当眼睛向某方向移动，观察到干预纹从中心冒出来时，由干预公式可得该处的等倾干预条纹所对应的厚度较大。此时应调节旋扭减小厚度；相反假设干预条纹有吞现象如此条纹的级数在减小那么该处的等倾条纹对应的厚度较小，此时应调节旋扭增加厚度。最后直至干预条纹稳定，无吞吐现象发生。2.答：设空气隙式标准具两板间距为d,固体式
12、标准具两板间距为d，两板间折射率为n,如此d=nd.3.答：可能出现问题为：1测量磁场时霍尔元件可能未与磁场完全垂直而导致测量的磁场偏小而导致误差；2未能给出法珀腔介质折射率而是使用n=1代替而导致误差；3在图上找圆心时不够准确而导致误差；4打印出来的圆环不够清晰以与圆环有一定宽度导致测量直径时产生误差。4.具体应用有：1由物质的塞曼效应分析物质的元素组成；2用于原子吸收分析；3用于稳频激光器的快速移频。4在天体物理中，塞曼效应可以用来测量天体的磁场。1908年美国天文学家海尔等人在威尔逊山天文台利用塞曼效应，首次测量到了太阳黑子的磁场。激光器的谐振腔可以看作是一个法布里-珀罗标准具。 5.这
13、些磁铁简单来说是用来产生Zeeman效应来抑制3390nm激光辐射的，一般成品氦氖激光器的波长都是632.8nm波长的，这两个波长具有一样的激光上能级，并且增益系数与波长的三次方成正比，所以3390nm波长的增益系数远高于632.8nm波长的增益系数，因此要想获得632.8nm的激光辐射必须抑制3390nm辐射。其中参加非均匀磁场的方法就是其中一种。6.塞曼效应的应用：一.由塞曼效应实验结果去确定原子的总角动量量子数J值和朗德因子g值,进而去确定原子总轨道角动量量子数L和总自旋量子数S的数值。一 ,谱线和谱线的分布、间距与条数验证。从实验图像可知，谱线和谱线彼此等距，对称地分布在原来未加磁场时
14、谱线的两旁。原因可如下解释：当=0时，对应的线条数与和的可能值的个数2J1+1和2J2+1中较小的一个相当。前面已经指出，J1，J2，故线条数为条，与实验结果相符。又，可以看出线是等距的，从J1变到J1，间隔为，且相对于原来的谱线对称分布。同线，当=时，形成偏振。可以看出线彼此之间等同间距，其间距也为，与线之间的间距一样，只是相对线移动了一个恒量。并且线条数与线一样，为条。同理可分析线与线的关系，与线相对于原谱线对称分布。 综上所述，各相邻谱线间距为=，而洛伦兹单位L=，即=L。谱线相对于线的移动为 。从而形成了如如下图的分裂图。二测定汞原子塞曼谱线相对强度4塞曼效应谱线分裂反映原子能级分裂量
15、子化性质;各塞曼谱线相对强度反映各子能级跃迁相对概率的大小，说明原子中价电子激发时在各塞曼子能级上的分布，这对了解外场与原 子相互作用具有重要意义.因此我们可以在原塞曼效应实验根底上，测定塞曼分裂各谱线的 相对强度。原理: 辐射场的作用将引起原子能级间的跃迁，设原子初态为a)，末态为b)，作为电偶极跃迁近似，如此微分跃迁概率为41式中:e为辐射场矢量辐射立体角元,r为原子电偶极矩，为辐射立体角元。在塞曼跃迁中，对某一确定的J跃迁，有3个跃迁分量:=0,。计算偏振方向强度分布，对辐射立体角进展积分。由可知:当垂直磁场B观察时，J(J+1)(J=1)时，各谱线相对强度的理论结果如下:a) 成分 4
16、2b) 成分43c) 成分44在上述几式中，磁感应强度B固定不变，因此在汞546.1nm的塞曼效应谱中，当取最强谱线强度=100时，其他谱线的相对强度即由图所示。塞曼谱线强度分布具有对称规律性:在成分中，上、下子能级磁量子数=0之间跃迁概率最大，谱线最强，居同级干预圆环中央，与外磁场B=0时跃迁相吻合。随着外磁场 B增大，谱线分裂增加，但各谱线相对强度不变，明确各塞曼子能级上的电子布居数密度不变.另外，说明在垂直磁场方向，偏振强度对称分布。具体测量方法：1摄谱在本实验的塞曼装置上，为增大光强，取下偏振片.为增大线分辨率，将F-P标准具适当向第一个透镜靠近，调节第二个透镜获得清晰的干预图像.随后
17、加上外磁场，磁感应强度应 大于1.2 T.垂直磁场摄谱，采用全色光谱干板或黑白胶卷，曝光10 min左右，曝光时应注意防止各种杂散光干扰。2测谱用测微光度计，在废X光胶片上用圆规刻宽约0.1-0.2 m m的圆弧狭缝，剪成圆形，放在测微光度计主狭缝屏前，狭缝开至0.3 m m，通过挡光板高度调节进光量，使最弱谱线黑度为40-60，以谱线附近背景调零或扣除。三 利用塞曼效应反推原子能级5 6在能级图上看，想要画出满足选择定如此的塞曼支能级间的跃迁不甚方便，而用格罗春图可以方便地由塞曼谱线反推能级量子数与g因子。此时以汞跃迁为例。格罗春图绘制过程：-101-110-22P m1S m2图12 格罗
18、春图画的步骤如下：由于分裂后的线有3条，线对应=0，所以根据m1的取值规律，可知m2=0,1,把它们等距地标记在上能级水平线上，两条水平线上一样的mj值一一对应，以垂直线相连， 表示=0的跃迁偏振。类似的，左下斜线表示=1的跃迁偏振，右下斜线表示=-1的跃迁偏振，但凡与这三条不平行的跃迁都是禁戒的。因为实验中有6条线，所以必须在下能级上添加m1=2两个点。(1)推算能级量子数上能级L=0格罗春图 m2=1，0，-1J2=1S2= J2-L2=1。所以上能级的原子态为。下能级L=1,S1= S2=1格罗春图 m1=-2，-1，0，1，2J1=2。所以下能级的原子态为。(2)计算原子能级的g因子
19、由，只要能得到关于的一个线形方程组：45便可解出上下能级的g因子。 必须指出的是：在分裂的9条谱线中，每一条都对应一个方程，但并非任意的两个方面都是独立的，必须在分支零对零的跃迁除外和分支各选一条，便可以解出， 结论应与理论值相一致。是：当电流增大到一定值时，制成电磁铁螺线圈的极性材料磁性就达到饱和了。再继续增加，B-I就不是线性关系了。七、思考题的自由光谱围为：，将=代入公式，得该标准具自由光谱围为nm。磁场强度的合理取值是B=907mT。2.1在天体物理中，塞曼效应可以用来测量天体的磁场。1908年美国天文学家海尔等人在威尔逊山天文台利用塞曼效应，首次测量到了太阳黑子的磁场。2利用塞曼效应可以测量电子的荷质比。应用正常塞曼效应测量谱线分裂的频率间隔可以测出电子的荷质比。由此计算得到的荷质比数值与约瑟夫汤姆生在阴极射线偏转实验中测得的电子荷质比数量级是一样的，二者互相印证，进一步证实了电子的存在。
